本試驗設(she)備(bei)模擬由(you)紫(zi)外光(guang)、雨水(shui)、露(lu)水(shui)引起(qi)的(de)破(po)壞(huai)，通(tong)過(guo)將(jiang)被測(ce)材料暴露(lu)於受控高(gao)溫(wen)下(xia)光(guang)照與水(shui)份(fen)的(de)交(jiao)變(bian)循(xun)環中，對(dui)材料進行測(ce)試(shi)。它(ta)用(yong)紫(zi)外線(xian)燈管模擬陽(yang)光(guang)的(de)輻(fu)射作(zuo)用(yong)，用(yong)凝(ning)結水(shui)和(he)噴(pen)水(shui)來模擬露(lu)水(shui)和(he)雨(yu)水(shui)。只需幾(ji)天或(huo)幾(ji)個(ge)星(xing)期(qi)的(de)時(shi)間，紫(zi)外線(xian)輻(fu)照設(she)備就(jiu)可以再現在(zai)室外需要幾(ji)個(ge)月甚至幾(ji)年的(de)時(shi)間才(cai)會(hui)發(fa)生的(de)損(sun)傷(shang)，其(qi)中包括(kuo)褪(tui)色(se)、顏色(se)變(bian)化(hua)、失去光(guang)澤(ze)、粉化(hua)、破(po)裂(lie)、裂(lie)紋(wen)、起(qi)皺、起(qi)泡(pao)、脆化、強(qiang)度(du)降(jiang)低、氧化等(deng)，其(qi)測(ce)試(shi)結果可用於選(xuan)擇(ze)新(xin)材料，改善(shan)現(xian)

智(zhi)能真空(kong)烤(kao)箱(xiang)，是(shi)將幹燥物料處於負壓條(tiao)件下(xia)進(jin)行幹(gan)燥的(de)壹(yi)種(zhong)箱(xiang)體式(shi)幹燥設備(bei)。適(shi)用(yong)於普通(tong)烘幹、真(zhen)空(kong)灌封、水(shui)分(fen)測(ce)試(shi)、固(gu)化、調節及脫水(shui)等(deng)。

氙(xian)燈加速(su)老化箱(xiang)，能再現全(quan)光(guang)譜(pu)太(tai)陽(yang)光(guang)和雨(yu)水(shui)造(zao)成(cheng)的(de)損(sun)害。被測(ce)材料放置(zhi)在(zai)壹(yi)定溫(wen)度(du)下(xia)的(de)光(guang)照和(he)潮氣交替的(de)循(xun)環程(cheng)序(xu)中進行測(ce)試(shi)。

LED三箱式(shi)冷熱(re)沖(chong)擊(ji)箱(xiang)，在瞬間下經(jing)及(ji)高(gao)溫(wen)及(ji)極(ji)低溫(wen)在(zai)連(lian)續環境(jing)下所(suo)能忍受的(de)程(cheng)度(du)，采用7寸(cun)真(zhen)彩(cai)觸摸屏,畫面(mian)顯示直觀(guan)易(yi)操作(zuo)，可做定值和(he)程(cheng)式(shi)控制。

UV紫(zi)外線(xian)加速(su)老(lao)化測(ce)試(shi)儀，采用紫(zi)外線(xian)熒光(guang)燈模擬陽(yang)光(guang)，同時(shi)還可以通(tong)過(guo)冷凝(ning)或(huo)噴淋(lin)的(de)方(fang)式(shi)模擬濕氣影響。可模擬自(zi)然氣候中的(de)紫(zi)外、雨(yu)淋(lin)、高(gao)溫(wen)、高(gao)濕、凝(ning)露(lu)、黑暗等(deng)環境(jing)條件(jian)。

溫(wen)度(du)快(kuai)速升降(jiang)溫(wen)試(shi)驗箱(xiang)，適(shi)應(ying)於儀器、儀表、電工(gong)、電子產品(pin)整機及(ji)零部件等(deng)作(zuo)溫(wen)度(du)快(kuai)速變(bian)化或(huo)漸變條件下(xia)的(de)適(shi)應(ying)性(xing)試驗及(ji)應(ying)力(li)篩選(xuan)試(shi)驗。

可編程(cheng)恒(heng)溫(wen)恒(heng)濕試驗箱(xiang)是(shi)汽(qi)車(che)、家電、科(ke)研等(deng)領(ling)域*的(de)測(ce)試(shi)設(she)備，用於測(ce)試(shi)和(he)確定電工(gong)、電子及其(qi)他(ta)產品(pin)及材料進行溫(wen)度(du)環(huan)境(jing)變化(hua)後的(de)參(can)數及(ji)性(xing)能。

電(dian)子高(gao)低溫(wen)測(ce)試(shi)機，模擬大(da)氣環境(jing)中溫(wen)度(du)變(bian)化規律(lv)，適(shi)用(yong)於工(gong)業產(chan)品(pin)高(gao)溫(wen)、低(di)溫(wen)的(de)可靠性(xing)試驗。

LED高(gao)溫(wen)高(gao)濕試驗箱(xiang)，也(ye)稱(cheng)為(wei)高(gao)溫(wen)高(gao)濕試驗箱(xiang)，恒(heng)溫(wen)恒(heng)濕試驗箱(xiang)，溫(wen)濕度(du)試(shi)驗箱(xiang)，雙85高(gao)溫(wen)高(gao)濕試驗箱(xiang)，高(gao)低溫(wen)濕熱(re)試(shi)驗箱(xiang)，可編程(cheng)高(gao)溫(wen)高(gao)濕試驗箱(xiang)。

控溫(wen)系(xi)統(tong)：采用PID微(wei)電(dian)腦(nao)自動(dong)控溫(wen)系(xi)統(tong)，通(tong)過(guo)敏銳(rui)的(de)偵測(ce)控頭感(gan)應(ying)到(dao)箱體工(gong)作(zuo)室的(de)溫(wen)度(du)，回(hui)饋到(dao)微(wei)電(dian)腦(nao)，通過(guo)微(wei)電(dian)腦(nao)的(de)自(zi)動(dong)快(kuai)速的(de)程(cheng)序(xu)運(yun)算，快(kuai)速地自(zi)動調整輸(shu)出端(duan)的(de)輸(shu)出功(gong)率(lv)，以(yi)達到(dao)控制在(zai)所設(she)定的(de)準(zhun)確值上。

觸控屏真空(kong)儲(chu)存(cun)櫃(gui) 負壓保(bao)存(cun)箱(xiang)適(shi)用(yong)於各(ge)類厭(yan)氧金屬、厭(yan)氧物料、化工(gong)原料、貴(gui)重(zhong)金(jin)屬、金(jin)屬粉(fen)末(mo)等各(ge)種固(gu)體、粉狀(zhuang)、糊狀(zhuang)、液(ye)體，電子產品(pin)（半導(dao)體、電路(lu)板(ban)、電子成品(pin)、芯(xin)片、電池板(ban)、電池片、電子元器件(jian)、高(gao)級金屬制(zhi)品(pin)、厭氧產品(pin)、易(yi)氧化產(chan)品(pin)等）及機金(jin)屬加(jia)工(gong)件的(de)真(zhen)空(kong)存(cun)貯(zhu)，以防(fang)潮、防(fang)氧化變(bian)色(se)。還可用於真(zhen)空(kong)脫(tuo)泡(pao)、除氣等作(zuo)用(yong)，可在真(zhen)空(kong)灌膠消氣泡(pao)的(de)工(gong)藝

標(biao)準(zhun)型UV紫(zi)外線(xian)耐(nai)候試(shi)驗箱(xiang)，采用8只額(e)定功率(lv)為(wei)40W的(de)紫(zi)外熒(ying)光(guang)燈作(zuo)發(fa)光(guang)源，通(tong)過模擬自(zi)然陽光(guang)中的(de)紫(zi)外輻(fu)射和冷凝(ning)，對(dui)材料進行加(jia)速(su)耐(nai)候性(xing)試驗。