LED三(san)箱式冷(leng)熱沖擊箱(xiang)，在(zai)瞬間下(xia)經及(ji)高溫(wen)及極(ji)低(di)溫(wen)在(zai)連(lian)續環境下(xia)所(suo)能忍受(shou)的(de)程度(du)，采用(yong)7寸(cun)真(zhen)彩(cai)觸摸屏,畫面顯示直(zhi)觀(guan)易操作(zuo)，可(ke)做(zuo)定(ding)值和程式控(kong)制(zhi)。

水冷(leng)式高(gao)低(di)溫(wen)沖擊(ji)試驗箱(xiang)，可(ke)以模擬(ni)多種溫(wen)度(du)變化(hua)環境，如(ru)冷(leng)熱沖擊、溫(wen)度(du)濕度(du)沖擊(ji)、溫(wen)度(du)濕度(du)循環等，可(ke)以用於(yu)測(ce)試(shi)樣(yang)品(pin)在(zai)溫(wen)度(du)變化(hua)環境下(xia)的性(xing)能變化(hua)。

新能源高低(di)溫(wen)沖擊(ji)試驗箱(xiang)，用於(yu)測(ce)試(shi)材(cai)料結構(gou)或(huo)復(fu)合材(cai)料，在(zai)瞬間下(xia)經高(gao)溫(wen)及低(di)溫(wen)的連(lian)續環境下(xia)忍受(shou)的(de)程度(du)，得以在(zai)短(duan)時間(jian)內(nei)檢測(ce)試(shi)樣(yang)因(yin)熱脹冷(leng)縮所(suo)引(yin)起的化(hua)學(xue)變化(hua)或(huo)物(wu)理(li)傷(shang)害(hai)。

高低(di)溫(wen)沖擊(ji)循環箱，用於(yu)測(ce)試(shi)材(cai)料結構(gou)或(huo)復(fu)合材(cai)料，在(zai)瞬間下(xia)經高(gao)溫(wen)及低(di)溫(wen)的連(lian)續環境下(xia)忍受(shou)的(de)程度(du)。

高低(di)溫(wen)溫(wen)度(du)沖擊(ji)試(shi)驗機(ji)，用於(yu)測(ce)試(shi)材(cai)料結構(gou)或(huo)復(fu)合材(cai)料，在(zai)瞬間下(xia)經高(gao)溫(wen)及低(di)溫(wen)的連(lian)續環境下(xia)忍受(shou)的(de)程度(du)。

提籃(lan)式沖(chong)擊試(shi)驗箱(xiang)，可(ke)以模擬(ni)多種溫(wen)度(du)變化(hua)環境，如(ru)冷(leng)熱沖擊、溫(wen)度(du)濕度(du)沖擊(ji)、溫(wen)度(du)濕度(du)循環等，可(ke)以用於(yu)測(ce)試(shi)樣(yang)品(pin)在(zai)溫(wen)度(du)變化(hua)環境下(xia)的性(xing)能變化(hua)。

發(fa)動(dong)機(ji)冷(leng)熱沖擊試(shi)驗箱(xiang)，可(ke)以模擬(ni)復雜的(de)溫(wen)度(du)變化(hua)環境，用於(yu)測(ce)試(shi)樣(yang)品(pin)在(zai)溫(wen)度(du)變化(hua)環境下(xia)的性(xing)能變化(hua)。

三(san)槽儲(chu)溫(wen)式冷(leng)熱沖擊試(shi)驗箱(xiang)，用來(lai)測(ce)試(shi)材(cai)料結構(gou)或(huo)復(fu)合材(cai)料，在(zai)瞬間下(xia)經高(gao)溫(wen)及低(di)溫(wen)的連(lian)續環境下(xia)所(suo)能忍受(shou)的(de)程度(du)，藉以在(zai)短(duan)時間(jian)內(nei) 試(shi)驗其(qi)因(yin)熱脹冷(leng)縮所(suo)引(yin)起的化(hua)學(xue)變化(hua)或(huo)物(wu)理(li)傷(shang)害(hai)。

三(san)槽式高(gao)低(di)溫(wen)循環沖擊箱(xiang)，適用於(yu)考核(he)產(chan)品(pin)(整機)、元(yuan)器(qi)件、零(ling)部(bu)件(jian)等(deng)經(jing)受(shou)溫(wen)度(du)急(ji)劇(ju)變化(hua)的(de)能力(li)。

箱(xiang)式冷(leng)熱沖擊試(shi)驗設(she)備(bei)，用(yong)於測(ce)試(shi)材(cai)料結構(gou)或(huo)復(fu)合材(cai)料，在(zai)瞬間下(xia)經高(gao)溫(wen)及低(di)溫(wen)的連(lian)續環境下(xia)所(suo)能忍受(shou)的(de)程度(du)，得以在(zai)短(duan)時間(jian)內(nei)檢測(ce)試(shi)樣(yang)因(yin)熱脹冷(leng)縮所(suo)引(yin)起的化(hua)學(xue)變化(hua)或(huo)物(wu)理(li)傷(shang)害(hai)。

可(ke)程式高(gao)低(di)溫(wen)沖擊(ji)實驗箱(xiang)，用於(yu)測(ce)試(shi)材(cai)料結構(gou)或(huo)復(fu)合材(cai)料，在(zai)瞬間下(xia)經高(gao)溫(wen)及低(di)溫(wen)的連(lian)續環境下(xia)所(suo)能忍受(shou)的(de)程度(du)，得以在(zai)短(duan)時間(jian)內(nei)檢測(ce)試(shi)樣(yang)因(yin)熱脹冷(leng)縮所(suo)引(yin)起的化(hua)學(xue)變化(hua)或(huo)物(wu)理(li)傷(shang)害(hai)。

手機(ji)屏(ping)高低(di)溫(wen)沖擊(ji)箱，用(yong)來測(ce)試(shi)材(cai)料結構(gou)或(huo)復(fu)合材(cai)料,在(zai)瞬間下(xia)經高(gao)溫(wen)及低(di)溫(wen)的連(lian)續環境下(xia)所(suo)能忍受(shou)的(de)程度(du)。