高(gao)溫(wen)水蒸(zheng)汽(qi)老(lao)化試(shi)驗箱(xiang)
高(gao)溫(wen)水蒸(zheng)汽(qi)老(lao)化試(shi)驗箱(xiang) HAST高(gao)壓蒸(zheng)汽(qi)恒定(ding)溫(wen)濕(shi)老(lao)化試(shi)驗箱(xiang)
高(gao)溫(wen)水蒸(zheng)汽(qi)老(lao)化試(shi)驗箱(xiang)是(shi)壹種(zhong)蒸(zheng)汽(qi)老(lao)化試(shi)驗箱(xiang)的變(bian)種(zhong),主要用(yong)於測(ce)試(shi)材料(liao)、產(chan)品(pin)和(he)設備在(zai)高溫(wen)高(gao)濕(shi)、壓力(li)條(tiao)件(jian)下(xia)的耐(nai)久(jiu)性能(neng)。它的工(gong)作原(yuan)理是(shi)將水加(jia)熱(re)成蒸(zheng)汽(qi),通過(guo)噴淋(lin)系(xi)統將蒸(zheng)汽(qi)噴灑(sa)到試(shi)驗樣(yang)品(pin)上,模擬高(gao)溫(wen)高(gao)濕(shi)環境(jing)下的條(tiao)件(jian)。同(tong)時(shi),高(gao)溫(wen)水蒸(zheng)汽(qi)老(lao)化試(shi)驗箱(xiang)還(hai)可(ke)以(yi)控(kong)制(zhi)試(shi)驗氣(qi)壓,以(yi)模擬高(gao)海(hai)拔(ba)或(huo)高(gao)壓環(huan)境(jing)。該試(shi)驗箱(xiang)通常用(yong)於測(ce)試(shi)汽(qi)車(che)、航(hang)空(kong)航(hang)天、電子、電器等領(ling)域(yu)的產(chan)品(pin)和(he)材料(liao)的耐(nai)久(jiu)性能(neng)。測(ce)試(shi)結果可(ke)用(yong)於改(gai)進產(chan)品(pin)設計、制(zhi)定(ding)質量(liang)控(kong)制(zhi)標(biao)準和(he)評估(gu)產(chan)品(pin)壽(shou)命(ming)。

壹(yi)、設備用(yong)途:
適(shi)用(yong)於電子連(lian)接(jie)器(qi)、半導體IC、晶體管(guan)、二極(ji)管(guan)、液晶LCD、芯(xin)片電阻電容(rong)、零組件產(chan)業(ye)電子零組件金(jin)屬(shu)接(jie)腳(jiao)沾錫(xi)性試(shi)驗前(qian)的老(lao)化加(jia)速壽(shou)命(ming)時(shi)間(jian)試(shi)驗;半(ban)導體、精密(mi)組件(jian)、零件接(jie)腳(jiao)氧化試(shi)驗。。
二、主要技術(shu)參(can)數(shu):
規(gui)格型號: HE-ZQ-5417
內部(bu)尺(chi)寸: 500×400×170(W×H×D)mm;
外部(bu)尺(chi)寸: 600×500×420(W×H×D)mm
內外箱(xiang)材質(zhi): SUS304#優質不銹鋼(gang)板(ban)
控(kong)制(zhi)功(gong)能: PID+SSR,數(shu)字式(shi)顯(xian)示(shi)
升溫(wen)時(shi)間(jian): 大(da)約(yue)40分(fen)鐘(zhong),
蒸(zheng)氣(qi)溫(wen)度(du): ≥97℃
計時(shi)功(gong)能: 1~9999H/M/S,附(fu)時(shi)到報警功(gong)能,時(shi)間(jian)到達(da)後切斷電源(yuan)
水位控(kong)制(zhi): 低(di)水位報(bao)警功(gong)能
電源(yuan): AC 220V±10% 50Hz 1.0KW
HAST高(gao)壓蒸(zheng)汽(qi)恒定(ding)溫(wen)濕(shi)老(lao)化試(shi)驗箱(xiang)是(shi)壹種(zhong)用(yong)於模擬高(gao)溫(wen)高(gao)濕(shi)環境(jing)進行(xing)材料(liao)老(lao)化試(shi)驗的設備。它通過(guo)將樣(yang)品(pin)置於(yu)高壓蒸(zheng)汽(qi)環境(jing)中,在(zai)較短的時(shi)間(jian)內加(jia)速樣(yang)品(pin)老(lao)化過(guo)程,以(yi)評估(gu)材料(liao)的性能(neng)和(he)壽(shou)命(ming)。該(gai)設備通常用(yong)於電子元器(qi)件(jian)、汽(qi)車(che)零部(bu)件(jian)、航空(kong)航(hang)天部(bu)件(jian)等領(ling)域(yu)的研究和(he)開發。
高(gao)溫(wen)水蒸(zheng)汽(qi)老(lao)化試(shi)驗箱(xiang)是(shi)壹種(zhong)用(yong)於測(ce)試(shi)材料(liao)在(zai)高溫(wen)高(gao)濕(shi)環境(jing)下的老(lao)化性能(neng)的設備。其(qi)使(shi)用(yong)方(fang)法如(ru)下(xia):1. 準(zhun)備樣(yang)品(pin):將待(dai)測(ce)試(shi)的材料(liao)制成適當(dang)的形(xing)狀和(he)尺(chi)寸(cun),確(que)保其(qi)符合(he)試(shi)驗標(biao)準要求。
2. 將樣(yang)品(pin)放(fang)置於試(shi)驗箱(xiang)內:將樣(yang)品(pin)放(fang)置於試(shi)驗箱(xiang)內的測(ce)試(shi)架上(shang),並根(gen)據(ju)試(shi)驗標(biao)準要求進(jin)行(xing)安排(pai)和(he)固定(ding)。
3. 設置(zhi)試(shi)驗參(can)數(shu):根(gen)據(ju)試(shi)驗標(biao)準要求,設置(zhi)試(shi)驗箱(xiang)的溫(wen)度(du)、濕(shi)度(du)、時(shi)間(jian)等參數(shu)。
4. 開始試(shi)驗:啟(qi)動(dong)試(shi)驗箱(xiang),讓(rang)試(shi)驗箱(xiang)內的高(gao)溫(wen)高(gao)濕(shi)環境(jing)下對樣(yang)品(pin)進行(xing)老(lao)化測(ce)試(shi)。
5. 觀(guan)察測(ce)試(shi)結果:在(zai)試(shi)驗結(jie)束(shu)後,取出(chu)樣(yang)品(pin),觀(guan)察其老(lao)化狀態和(he)性能(neng)變化情(qing)況,進(jin)行評估(gu)和(he)分(fen)析。
6. 清(qing)潔試(shi)驗箱(xiang):試(shi)驗結(jie)束(shu)後,將試(shi)驗箱(xiang)內的水和(he)濕(shi)氣清(qing)理幹(gan)凈(jing),保持試(shi)驗箱(xiang)內部(bu)的清(qing)潔和(he)幹(gan)燥(zao)。
需(xu)要註(zhu)意(yi)的是(shi),在(zai)進行(xing)高溫(wen)水蒸(zheng)汽(qi)老(lao)化試(shi)驗時(shi),需(xu)要嚴(yan)格按(an)照(zhao)試(shi)驗標(biao)準要求進(jin)行(xing)操作,並保證(zheng)試(shi)驗箱(xiang)內部(bu)的溫(wen)度(du)、濕(shi)度(du)等參數(shu)的穩(wen)定(ding)性和(he)準(zhun)確(que)性,以(yi)確(que)保測(ce)試(shi)結果的可(ke)靠(kao)性和(he)準(zhun)確(que)性。
- 上(shang)壹篇(pian):高低(di)溫(wen)冷(leng)熱(re)沖(chong)擊(ji)試(shi)驗箱(xiang)
- 下(xia)壹篇(pian):300度(du)真空(kong)烘(hong)箱(xiang)


