耐漏(lou)電起痕(hen)試(shi)驗儀PCB耐漏(lou)電起痕(hen)試(shi)驗儀
 

　　是壹(yi)種(zhong)用於(yu)測試(shi)電氣產(chan)品絕(jue)緣材料的(de)絕(jue)緣性(xing)能的(de)儀器。它(ta)采(cai)用高壓電源(yuan)產(chan)生(sheng)高電壓，在被測物(wu)體(ti)的(de)兩(liang)個(ge)電(dian)極(ji)之間(jian)施加(jia)電壓，然後(hou)通過檢測電(dian)流(liu)來(lai)判斷絕(jue)緣性(xing)能是(shi)否(fou)合(he)格。起痕(hen)試(shi)驗是其中(zhong)壹(yi)種(zhong)測試(shi)方(fang)式(shi)，它(ta)是(shi)通過在絕(jue)緣材料表(biao)面(mian)施(shi)加(jia)電壓，使電弧在材料表(biao)面(mian)產(chan)生(sheng)放(fang)電(dian)，從(cong)而(er)形(xing)成(cheng)痕(hen)跡(ji)，並根(gen)據痕(hen)跡(ji)的(de)形狀(zhuang)和長度(du)來(lai)評(ping)定絕(jue)緣材料的(de)質量。

　　壹(yi)、設備(bei)簡介：
 

　　本(ben)試(shi)驗儀適用(yong)於電(dian)器產(chan)品受潮(chao)和(he)雜(za)質環(huan)境的(de)影響(xiang)下，不同(tong)極性(xing)的(de)帶電(dian)部(bu)件(jian)之間(jian)或(huo)帶(dai)電(dian)部(bu)件(jian)與接(jie)地金屬(shu)部(bu)件(jian)之間(jian)可能(neng)會(hui)引(yin)起(qi)絕(jue)緣上(shang)的(de)漏電(dian)，產(chan)生(sheng)的(de)電弧(hu)對電(dian)器造成擊(ji)穿(chuan)短路或(huo)由(you)於(yu)放(fang)電(dian)使材料蝕損，甚(shen)至引(yin)燃(ran)導(dao)致(zhi)火(huo)災。本(ben)試(shi)驗儀器就(jiu)是(shi)模擬上(shang)述情(qing)況對絕(jue)緣材料進(jin)行的(de)壹種(zhong)破壞(huai)性(xing)試驗，用以測(ce)試和(he)評(ping)定在(zai)規定電(dian)壓下，絕(jue)緣體(ti)在(zai)電(dian)場和含(han)雜(za)質水(shui)作用時(shi)的(de)相對耐漏(lou)電起痕(hen)性(xing)。適(shi)用(yong)於(yu)電工電子(zi)產(chan)品，家(jia)用(yong)電(dian)器的(de)固體(ti)電(dian)器絕(jue)緣材料及(ji)其產(chan)品，如(ru)：繼(ji)電(dian)器插(cha)座(zuo)、轉(zhuan)換開(kai)關(guan)蓋、接(jie)觸(chu)器軀(qu)體(ti)等(deng)。
 

　　二(er)、執行標準(zhun)：
 

　　EN60335-1-2012 《家(jia)用(yong)和(he)類(lei)似(si)用(yong)途電(dian)器的(de)安全(quan)第(di)壹(yi)部(bu)分(fen)通用要(yao)求》
 

　　GB4706.1-2008 《家(jia)用(yong)和(he)類(lei)似(si)用(yong)途電(dian)器的(de)安全(quan)通用要(yao)求》
 

　　IEC60884-1-2002 《家(jia)用(yong)和(he)類(lei)似(si)用(yong)途插(cha)頭(tou)插(cha)座(zuo)第(di)1部(bu)分(fen)：通用要(yao)求>
 

　　GB2099.1-2008 <家(jia)用(yong)和(he)類(lei)似(si)用(yong)途插(cha)頭(tou)插(cha)座(zuo) 第(di)1部(bu)分(fen)：通用要(yao)求>
 

　　GB/T4207-2003<漏(lou)電(dian)起(qi)痕(hen)絕(jue)緣材料測(ce)定方(fang)法(fa)>
 

　　IEC60112-2003《固(gu)體(ti)絕(jue)緣材料耐電(dian)痕(hen)化(hua)指(zhi)數(shu)和相(xiang)比電(dian)痕(hen)化(hua)指(zhi)數(shu)的(de)測定方(fang)法(fa)》
 

　　三、技術(shu)參數(shu)：
 

　　設備(bei)型號： HE-LT-600V、 HE-LT-600VP
 

　　控(kong)制系統： 按(an)鍵式(shi)控(kong)制、   PLC + 觸(chu)摸(mo)屏控(kong)制
 

　　打印功(gong)能(neng)： 無(wu) 微型打(da)印機(ji)，自動打(da)印測試(shi)數(shu)據
 

　　箱體(ti)內容積： ≥0.5立(li)方(fang)米(mi)，帶(dai)玻(bo)璃觀(guan)察門(men)
 

　　電(dian)氣負(fu)載： 試(shi)驗電壓在 100 ~ 600V 之間(jian)可調(tiao)，短路電(dian)流在(zai)1A ± 0.1A 時(shi)，電(dian)壓下降應(ying)不(bu)超(chao)過10%，當試(shi)驗回(hui)路(lu)中(zhong)，短路漏(lou)電電(dian)流(liu)等(deng)於(yu)或(huo)大(da)於(yu) 0.5A 時(shi)，時(shi)間(jian)維(wei)持 2 秒鐘(zhong)，繼電(dian)器動(dong)作(zuo)，切斷(duan)電(dian)流，指(zhi)示(shi)試品不合(he)格。
 

　　兩(liang)極(ji)對試(shi)樣(yang)作(zuo)用(yong)力(li)： 采(cai)用矩形鉑(bo)金電(dian)極(ji)，兩(liang)極(ji)對試(shi)樣(yang)的(de)作用(yong)力分(fen)別為(wei) 1.0N ± 0.05N
 

　　滴(di)液(ye)裝置(zhi)： 滴液(ye)高度(du)從 30mm ~ 40mm 可(ke)調，滴液(ye)大(da)小(xiao) 44 ~ 50 滴 / cm³，滴(di)液(ye)時(shi)間(jian)間(jian)隔 30 ± 1 秒
 

　　計(ji)時(shi)器： 采(cai)用(yong)進口計(ji)時(shi)器，0 ~ 99 分(fen) 99 秒範(fan)圍內可調(tiao)，精(jing)度(du)±0.1秒
 

　　電(dian)流表(biao)： 采用(yong)精密儀(yi)表(biao)，精度(du)達0.01A
 

　　電(dian)極(ji)： 采用(yong)鉑(bo)金電(dian)極(ji)，耐高溫耐腐(fu)蝕
 

　　使用電源(yuan)： AC 220V，50Hz
 

　　PCB耐漏(lou)電起痕(hen)試(shi)驗儀是壹(yi)種(zhong)專門(men)用於(yu)測試印刷(shua)電路(lu)板(PCB)絕(jue)緣性(xing)能的(de)測試(shi)儀器。它(ta)可(ke)以通過施加(jia)高電壓，在PCB上形成(cheng)電(dian)弧，從(cong)而(er)評(ping)估PCB的(de)絕(jue)緣性(xing)能。具體(ti)來(lai)說(shuo)，它(ta)可(ke)以測試(shi)PCB表(biao)面(mian)痕(hen)跡(ji)、痕(hen)跡(ji)長度(du)、痕(hen)跡(ji)密度(du)、痕(hen)跡(ji)間(jian)距(ju)等(deng)參數(shu)，並且可(ke)以自動記(ji)錄(lu)測試結(jie)果(guo)和(he)生(sheng)成測(ce)試報(bao)告。該儀器可(ke)以(yi)幫助PCB制造商確保(bao)其(qi)產(chan)品符合(he)安全(quan)標(biao)準(zhun)，並提高產(chan)品質量和(he)可靠性。
 

　　漏(lou)電(dian)起(qi)痕(hen)試(shi)驗是壹種(zhong)測試(shi)電器電(dian)氣絕(jue)緣材料的(de)絕(jue)緣性(xing)能的(de)方(fang)法(fa)，下面(mian)是(shi)漏(lou)電起痕(hen)試(shi)驗的(de)步驟(zhou)：
 

　　1. 準備(bei)測(ce)試(shi)設備(bei)：包(bao)括(kuo)高壓電源(yuan)、漏電(dian)起痕(hen)試(shi)驗儀、測試(shi)電極(ji)等。
 

　　2. 將(jiang)被測試物(wu)品連接(jie)到(dao)測試電極(ji)上，確保(bao)測(ce)試電(dian)極的(de)表(biao)面(mian)沒有雜(za)質。
 

　　3. 設置(zhi)高壓電源(yuan)的(de)電壓值(zhi)和時(shi)間(jian)，然後(hou)將高壓電源(yuan)連接(jie)到(dao)測試電極(ji)上。
 

　　4. 施(shi)加(jia)高電壓，通常為(wei)的(de)電壓值(zhi)，持續壹(yi)定的(de)時(shi)間(jian)，通常為(wei)1分(fen)鐘。
 

　　5. 觀(guan)察測(ce)試(shi)電極(ji)之間(jian)是否(fou)會產(chan)生(sheng)電弧(hu)，如(ru)果(guo)產(chan)生(sheng)了電(dian)弧，則會在絕(jue)緣材料表(biao)面(mian)上(shang)形(xing)成痕(hen)跡(ji)。
 

　　6. 檢查(zha)痕(hen)跡(ji)的(de)長度(du)、密度(du)等參數(shu)，並記(ji)錄(lu)測試結(jie)果(guo)。
 

　　7. 根(gen)據測試(shi)結(jie)果(guo)判斷被(bei)測試(shi)物(wu)品的(de)絕(jue)緣性(xing)能是(shi)否(fou)符合(he)標(biao)準。
 

　　需要(yao)註(zhu)意的(de)是，漏(lou)電起(qi)痕(hen)試(shi)驗需要(yao)在安全(quan)條(tiao)件(jian)下進行，測試(shi)人員應(ying)該穿戴(dai)好(hao)防護(hu)裝備(bei)並遵循相(xiang)應(ying)的(de)操作規程。