伺(si)服電(dian)腦式(shi)紙箱(xiang)抗壓試(shi)驗(yan)機
伺(si)服電(dian)腦擠(ji)壓試(shi)驗(yan)機的(de)方法(fa) 伺(si)服電(dian)腦式(shi)紙箱(xiang)抗壓試(shi)驗(yan)機
伺(si)服電(dian)腦擠(ji)壓試(shi)驗(yan)機是(shi)壹(yi)種(zhong)用於測(ce)試(shi)材料(liao)在受(shou)力下的變形和(he)破(po)壞性能的測試(shi)設(she)備(bei)。它通(tong)過(guo)伺(si)服電(dian)機控制壓力和(he)位(wei)移，從(cong)而實現對(dui)樣(yang)品的精(jing)確控(kong)制和測試(shi)。在測(ce)試(shi)過(guo)程中(zhong)，樣(yang)品通(tong)常被放置(zhi)在(zai)夾(jia)具(ju)中(zhong)，然後施(shi)加(jia)壓力或拉力，以(yi)模(mo)擬其(qi)在(zai)實(shi)際使(shi)用環境(jing)中(zhong)的(de)受(shou)力(li)情(qing)況。通(tong)過(guo)測(ce)試(shi)，可以(yi)得出(chu)材(cai)料的(de)強度(du)、韌(ren)性、變形率(lv)等(deng)性能指標，為(wei)材(cai)料的(de)選擇和(he)設(she)計提(ti)供參考。
壹(yi)、簡(jian)介(jie)：
用於模(mo)擬各類動力鋰電池(chi)在(zai)運(yun)輸(shu)，儲(chu)存及(ji)使(shi)用過(guo)程中(zhong)，電(dian)池(chi)遭(zao)受(shou)擠(ji)壓或針刺(ci)的(de)情(qing)形，人(ren)工(gong)呈現電(dian)池(chi)在遭(zao)受(shou)強大(da)外(wai)力(li)擠(ji)壓時可(ke)能(neng)出(chu)現的(de)不(bu)同狀況；
該設(she)備(bei)在試(shi)驗(yan)時壹(yi)旦發生電(dian)池起火(huo)或爆炸時應(ying)能絕對(dui)保(bao)證(zheng)人(ren)身(shen)安全(quan)和不(bu)對(dui)試(shi)驗(yan)環境(jing)造成(cheng)危害。蓄(xu)電(dian)池進(jin)行(xing)擠壓試(shi)驗(yan)時，應(ying)不(bu)爆炸，不(bu)起火(huo)方為(wei)合(he)格(ge)。
二(er)、標準(zhun)依據：
GB/T 31485-2015、GB/T 31467.3-2015、QC/T 743-2006、QC/T 744-2006、GB 31241-2014、GB/T 18287 -2013、GB/T 8897.4-2008、YD/T 2344.1-2011、GB/T 21966-2008、MT/T 1051-2007、YD 1268-2003、GB/T 19521.11-2005、YDB 032-2009、UL 1642：2012、UL 2054： 2012、UN38.3(2012)、IEC62133-2012、IEC 62281： 2004、IEC 60086： 2007等(deng)相(xiang)關(guan)測(ce)試(shi)標準(zhun)。
三(san)、主(zhu)要技術(shu)參數：
設(she)備(bei)型號(hao)： HE-JC-5TS
最大(da)壓力： 5噸(dun)
擠(ji)壓精(jing)度(du)： ±0.5%
測(ce)試(shi)空間(jian)： 500×500mm（可(ke)按(an)要求定(ding)制）
最大(da)位(wei)移： 500 mm
箱(xiang)體(ti)結構(gou)： 立(li)式(shi)結構與(yu)控(kong)制部(bu)分(fen)分(fen)開
擠(ji)壓速(su)度(du)： 1 ~ 500mm/min(可(ke)調(tiao))
判(pan)定條件： 力(li)量(liang)、位(wei)移（形變）、電壓
擠(ji)壓方向： 垂(chui)直(zhi)
擠(ji)壓變形量(liang)： 0~100%多檔(dang)位(wei)工布(bu)設(she)置，可(ke)連續(xu)實(shi)現多層(ceng)擠(ji)壓變形狀態(tai)
擠(ji)壓保(bao)持時間(jian)： 0~99小(xiao)時99分(fen)鐘99秒
驅(qu)動方式(shi)： 電(dian)動伺(si)服
控(kong)制方式(shi)： 電(dian)腦式(shi)控制，采用R232、485通(tong)訊接(jie)口(kou)
擠(ji)壓夾具(ju)： 異(yi)形擠(ji)壓頭(tou)（300×150mm），平(ping)面擠壓盤(pan)、圓(yuan)弧(hu)擠(ji)壓盤(pan)（半(ban)徑75mm）
采(cai)集(ji)系(xi)統(tong)： 電(dian)壓、溫度(du)采(cai)集(ji)
溫(wen)度(du)采(cai)集(ji)範圍(wei)： 0 ~ 1200℃
電(dian)壓測量(liang)： 0~60V，60~120V，120V~700V （可(ke)選擇）
攝(she)像監(jian)控系(xi)統(tong)： 高清攝(she)像監(jian)控系(xi)統(tong)，可(ke)遠程控(kong)制
安全(quan)防(fang)護： 滅(mie)火(huo)系(xi)統(tong)、泄(xie)壓門、煙霧報(bao)警(jing)
電(dian)源(yuan)電(dian)壓： AC 三(san)相(xiang) 五(wu)線(xian)380V 50/60HZ
保(bao)護裝置(zhi)： 漏電保(bao)護、過(guo)載(zai)保(bao)護、過(guo)電(dian)流保(bao)護、異(yi)常報(bao)警(jing)、急(ji)停等
伺(si)服電(dian)腦式(shi)紙箱(xiang)抗壓試(shi)驗(yan)儀(yi)是(shi)壹(yi)種(zhong)用於測(ce)試(shi)紙箱(xiang)抗壓能力(li)的儀(yi)器(qi)。它采用伺(si)服電(dian)機控制系(xi)統(tong)，精(jing)確控(kong)制試(shi)驗(yan)過(guo)程，使(shi)得測試(shi)數據更(geng)加(jia)準(zhun)確(que)可(ke)靠。該儀(yi)器(qi)可以(yi)進(jin)行(xing)多種(zhong)不(bu)同類型(xing)的試(shi)驗(yan)，如靜(jing)態(tai)抗壓試(shi)驗(yan)、動態(tai)抗壓試(shi)驗(yan)、波動抗壓試(shi)驗(yan)等。同時，該儀(yi)器(qi)還具(ju)備(bei)多種(zhong)安全(quan)保(bao)護措(cuo)施(shi)，如限(xian)位(wei)保(bao)護、過(guo)載(zai)保(bao)護等(deng)，確(que)保(bao)試(shi)驗(yan)過(guo)程中(zhong)的(de)安全(quan)性。該儀(yi)器(qi)廣(guang)泛應(ying)用於紙(zhi)箱(xiang)制造行(xing)業(ye)、物(wu)流行(xing)業(ye)以(yi)及(ji)商(shang)品包裝質量(liang)檢測(ce)等(deng)領域。 伺(si)服電(dian)腦擠(ji)壓試(shi)驗(yan)機是(shi)壹(yi)種(zhong)用於測(ce)試(shi)材料(liao)擠壓性能的儀(yi)器(qi)，壹般采用以(yi)下步驟進(jin)行(xing)測試(shi)：1. 準(zhun)備(bei)樣(yang)品：根據需要測試(shi)的材(cai)料的(de)特性和要求，準(zhun)備(bei)壹定(ding)數量(liang)的樣(yang)品，並(bing)按(an)照(zhao)標準(zhun)要求進(jin)行(xing)制備(bei)和標記(ji)。
2. 安裝樣(yang)品：將(jiang)樣(yang)品放置(zhi)在(zai)測(ce)試(shi)機的(de)夾具(ju)中(zhong)，並(bing)根據需要調(tiao)整夾具(ju)的位(wei)置和(he)壓力。
3. 設(she)置測(ce)試(shi)參數：根據測試(shi)要求和(he)標準(zhun)，設(she)置測(ce)試(shi)機的(de)測試(shi)參數，如測(ce)試(shi)速(su)度(du)、測(ce)試(shi)壓力、測(ce)試(shi)時間(jian)等(deng)。
4. 開始測試(shi)：按下測試(shi)機上(shang)的啟(qi)動按鈕，測(ce)試(shi)機開始進(jin)行(xing)測試(shi)，同時記(ji)錄(lu)測試(shi)數據。
5. 分(fen)析(xi)測試(shi)結果(guo)：測試(shi)結束後，將(jiang)測(ce)試(shi)數據進(jin)行(xing)分(fen)析(xi)和處理(li)，得出(chu)測(ce)試(shi)結果(guo)，並(bing)與(yu)標準(zhun)要求進(jin)行(xing)比較(jiao)。
6. 結(jie)束測試(shi)：將(jiang)測(ce)試(shi)樣(yang)品從測試(shi)機中(zhong)取(qu)出(chu)，清理(li)測(ce)試(shi)機，保(bao)存測(ce)試(shi)數據和結(jie)果，並(bing)進(jin)行(xing)必(bi)要的後(hou)續(xu)處理(li)。
總(zong)之(zhi)，伺(si)服電(dian)腦擠(ji)壓試(shi)驗(yan)機的(de)測試(shi)方法(fa)需要根據具(ju)體(ti)的測(ce)試(shi)要求和(he)標準(zhun)進(jin)行(xing)設(she)置和(he)操作，以(yi)確(que)保(bao)測試(shi)結果(guo)的準(zhun)確(que)性和可靠性。
