HAST加速老(lao)化試驗箱多層(ceng)電路(lu)板測(ce)試  HAST加速老(lao)化試驗箱多層(ceng)電路(lu)板測(ce)試好處

HAST（Highly Accelerated Stress Test）加速老(lao)化試驗箱是壹(yi)種(zhong)常(chang)用於電子產品可(ke)靠性(xing)測(ce)試的設(she)備(bei)。它可(ke)以模(mo)擬(ni)高溫(wen)、高濕環(huan)境(jing)，對(dui)電子產品進(jin)行長(chang)時(shi)間(jian)的加速老(lao)化測試。在多層(ceng)電路(lu)板測(ce)試中(zhong)，HAST加速老(lao)化試驗箱可(ke)以幫助檢測電路(lu)板在高溫(wen)高濕環(huan)境(jing)下的可(ke)靠性(xing)。它可(ke)以模(mo)擬(ni)現實生活(huo)中(zhong)可(ke)能(neng)遇到的惡(e)劣環(huan)境(jing)條(tiao)件(jian)，通過(guo)加速老(lao)化測試，評估(gu)電路(lu)板在長(chang)期使(shi)用中(zhong)是否(fou)會(hui)出(chu)現性能(neng)下降、功(gong)能(neng)失效等問題(ti)。

在測(ce)試(shi)過程中(zhong)，電路(lu)板會(hui)被(bei)放置在HAST加速老(lao)化試驗箱中(zhong)，然後設(she)定(ding)相(xiang)應(ying)的溫(wen)度和濕度條(tiao)件(jian)。在高溫(wen)高濕的環(huan)境(jing)下，電路(lu)板會(hui)經(jing)歷(li)長(chang)時(shi)間(jian)的老化過程，通過(guo)監測(ce)電路(lu)板的性能(neng)指標(biao)和(he)功(gong)能(neng)，可(ke)以評(ping)估(gu)其(qi)可(ke)靠性(xing)和(he)耐(nai)久(jiu)性(xing)。

多層(ceng)電路(lu)板測(ce)試是電子產品開發(fa)和(he)制(zhi)造(zao)過(guo)程中(zhong)重要(yao)的壹(yi)環(huan)，它可(ke)以幫助發(fa)現潛(qian)在的問題和缺(que)陷(xian)，並(bing)提前(qian)進(jin)行改進(jin)和優(you)化。通過(guo)使(shi)用HAST加速老(lao)化試驗箱進(jin)行多層(ceng)電路(lu)板測(ce)試，可(ke)以有(you)效提高電子產品的可(ke)靠性(xing)和(he)穩定性(xing)，確保(bao)其(qi)在各種(zhong)環(huan)境(jing)條(tiao)件(jian)下的正(zheng)常(chang)運行。 壹(yi)、設(she)備(bei)用途(tu)：

    HAST加速老(lao)化試驗箱廣(guang)泛(fan)應(ying)用於多層(ceng)電路(lu)板、IC封(feng)裝、液(ye)晶(jing)屏、LED、半導(dao)體、磁性(xing)材(cai)料、NdFeB、稀(xi)土(tu)、磁鐵(tie)等材料的密封(feng)性(xing)能(neng)測試(shi)，對(dui)上(shang)述產品的耐(nai)壓(ya)力和氣密性進(jin)行測(ce)試。

二、設(she)備(bei)特點(dian)：

1) 采用進(jin)口耐(nai)高溫(wen)電磁閥(fa)雙路結(jie)構，在很(hen)大(da)程度上降低(di)了(le)使(shi)用故障(zhang)率(lv)。

2) 獨立蒸汽(qi)發生(sheng)室，避(bi)免蒸汽(qi)直接沖擊產(chan)品，以免(mian)造(zao)成(cheng)產(chan)品局(ju)部(bu)破壞(huai)。

3) 門鎖省力結(jie)構，解決第(di)壹(yi)代產(chan)品圓盤式手柄(bing)的鎖緊困難的缺點(dian)。

4) 試驗(yan)前排(pai)冷空(kong)氣；試驗(yan)中(zhong)排(pai)冷空(kong)氣設(she)計(試驗(yan)桶內空(kong)氣排(pai)出(chu))提高壓(ya)力穩定性(xing)、再現性.

5) 超長(chang)效實驗運轉時(shi)間(jian)，長(chang)時(shi)間(jian)實驗機臺運轉400小(xiao)時.

6) 水(shui)位(wei)保(bao)護，透(tou)過試(shi)驗(yan)室內水(shui)位(wei)Sensor檢知保護.

7) tank耐(nai)壓(ya)設(she)計，箱(xiang)體耐(nai)壓(ya)力(150℃)2.65kg，符合水(shui)壓(ya)測試(shi)6kg.

8) 二段(duan)式壓(ya)力安全(quan)保護裝置，采兩段(duan)式結(jie)合控(kong)制(zhi)器與機械式(shi)壓(ya)力保護裝置.

9) 安全(quan)保護排(pai)壓(ya)鈕，警(jing)急安全(quan)裝置二段(duan)式自(zi)動(dong)排(pai)壓(ya)鈕 .

10) 偏壓(ya)測試(shi)端子耐(nai)壓(ya)可(ke)達3000V(選配(pei)）

11) USB導出(chu)歷(li)史(shi)記錄數據(ju)，曲(qu)線(xian).

三、主(zhu)要(yao)技(ji)術參(can)數(shu)：

設(she)備(bei)型(xing)號(hao)： HE-HAST-40

圓形(xing)內箱尺(chi)寸(cun)： 直徑(jing)Φ400×深(shen)500（mm）

溫(wen)度範圍： +100℃～+132℃( 蒸氣溫(wen)度 )

溫(wen)度波動(dong)度： ±0.5℃

溫(wen)度顯示(shi)精度： 0.1℃

濕度範圍： 70~100% 蒸氣濕度

濕度控(kong)制(zhi)穩定度： ±3%RH

使(shi)用壓(ya)力： 1.2~2.89kg(含(han)1atm)

壓(ya)力波動(dong)均勻(yun)度： ±0.1Kg

時間(jian)範圍： 0 Hr～999Hr

加壓(ya)時間(jian)： 0.00 Kg～1.04 Kg/cm²  約(yue) 45 分(fen)

控(kong)制(zhi)器： PLC可(ke)程式彩(cai)色觸(chu)摸(mo)屏控(kong)制(zhi)

內桶材質(zhi)： SUS316#不銹鋼(gang)板(ban)

外箱(xiang)材質(zhi)： SECC冷鋼板(ban)高溫(wen)烤(kao)漆處理(li)

使(shi)用電源： 單相 220V  20A  50/60Hz

安全(quan)保護： 超壓(ya)保護，超溫(wen)保護，缺(que)水(shui)保(bao)護等

水(shui)質(zhi)要(yao)求： 純水(shui)或(huo)蒸餾水(shui)（用戶自(zi)備(bei)）

HAST加速老(lao)化試驗箱在多層(ceng)電路(lu)板測(ce)試中(zhong)有以下好(hao)處：1. 高效加速老(lao)化：HAST試驗箱可(ke)以模(mo)擬(ni)高溫(wen)高濕環(huan)境(jing)，通過(guo)提(ti)高溫(wen)度和濕度，加速電路(lu)板的老化過程。相比(bi)於自然(ran)老化，HAST試驗可(ke)以在較(jiao)短(duan)的時間(jian)內提供(gong)更快(kuai)的老化速度，加快產(chan)品開發(fa)和(he)測(ce)試(shi)周期。

2. 發現潛(qian)在問(wen)題(ti)：通過(guo)多層(ceng)電路(lu)板測(ce)試，可(ke)以及(ji)早(zao)發現電路(lu)板中(zhong)的潛(qian)在問(wen)題(ti)和缺陷(xian)。HAST試(shi)驗(yan)可(ke)以暴(bao)露(lu)出(chu)電路(lu)板在高溫(wen)高濕環(huan)境(jing)下可(ke)能(neng)出現的性能(neng)下降、功(gong)能(neng)失效、電氣故(gu)障(zhang)等問題(ti)，從而(er)提(ti)前采取(qu)措(cuo)施(shi)進(jin)行改進(jin)和優(you)化。

3. 提高產品可(ke)靠性(xing)：通過(guo)經(jing)過(guo)HAST加速老(lao)化試驗的多層(ceng)電路(lu)板進(jin)行測(ce)試，可(ke)以評(ping)估(gu)電路(lu)板在長(chang)期使(shi)用中(zhong)的可(ke)靠性(xing)和(he)耐(nai)久(jiu)性(xing)。這樣(yang)可(ke)以確保(bao)產(chan)品在各種(zhong)惡(e)劣環(huan)境(jing)條(tiao)件(jian)下仍(reng)然能(neng)夠正(zheng)常(chang)運行，提(ti)高產品的可(ke)靠性(xing)和(he)穩定性(xing)。

4. 節(jie)省(sheng)成(cheng)本和(he)時間(jian)：通過(guo)使(shi)用HAST試驗(yan)箱進(jin)行多層(ceng)電路(lu)板測(ce)試，可(ke)以在短(duan)時(shi)間(jian)內獲(huo)得可(ke)靠的測試結(jie)果(guo)。這樣(yang)可(ke)以減(jian)少產(chan)品開發(fa)和(he)測(ce)試(shi)周期，提(ti)高生產(chan)效率(lv)，同時也能(neng)夠減(jian)少因(yin)產(chan)品在實際使(shi)用中(zhong)出現問題而(er)導(dao)致的維修和返工(gong)成(cheng)本。

總的來(lai)說，HAST加速老(lao)化試驗箱在多層(ceng)電路(lu)板測(ce)試中(zhong)可(ke)以提(ti)供(gong)高效的加速老(lao)化測試，幫助發(fa)現潛(qian)在問(wen)題(ti)，提高產品可(ke)靠性(xing)，同時也能(neng)夠節(jie)省(sheng)成(cheng)本和(he)時間(jian)。