高(gao)低(di)溫低氣(qi)壓試驗箱的(de)性(xing)能(neng)  高(gao)低(di)溫低氣(qi)壓試驗箱的(de)好(hao)處

高(gao)低(di)溫低氣(qi)壓試驗箱是(shi)壹(yi)種用於模(mo)擬(ni)極差(cha)環境條件的(de)測(ce)試設備(bei)，主要(yao)用於電(dian)子(zi)、電工(gong)、汽車(che)、航(hang)天航(hang)空等(deng)領域(yu)的(de)產(chan)品(pin)性(xing)能(neng)測試。性(xing)能(neng)方(fang)面(mian)，高(gao)低(di)溫低氣(qi)壓試驗箱具(ju)有以(yi)下特(te)點(dian)：

1. 溫(wen)度(du)範圍廣：能(neng)夠提(ti)供(gong)較(jiao)低的(de)溫(wen)度和(he)較(jiao)高(gao)的(de)溫(wen)度，通(tong)常(chang)可(ke)達(da)到-70℃至(zhi)+150℃範圍。

2. 溫(wen)度(du)控(kong)制(zhi)精(jing)度高(gao)：采用先進的(de)溫(wen)度控(kong)制(zhi)系(xi)統(tong)，能(neng)夠精確控(kong)制(zhi)溫(wen)度波動(dong)在(zai)±0.5℃以內。

3. 快(kuai)速(su)溫度變(bian)化能(neng)力(li)強：具(ju)備(bei)快速(su)升(sheng)溫(wen)和(he)快(kuai)速(su)降溫功能(neng)，能(neng)夠在短時(shi)間內(nei)實(shi)現溫度(du)的(de)快(kuai)速(su)變化。

4. 空(kong)間(jian)均勻(yun)性(xing)好(hao)：內(nei)部(bu)空(kong)間(jian)設(she)計合理，通(tong)風(feng)、加熱(re)和(he)冷卻均勻(yun)分(fen)布(bu)，保證(zheng)整(zheng)個(ge)測(ce)試箱內溫(wen)度均(jun)勻(yun)。

5. 真空(kong)性(xing)能(neng)可靠：具(ju)備(bei)真空(kong)系統(tong)，能(neng)夠在壹定(ding)範圍內實(shi)現低氣(qi)壓環境的(de)模(mo)擬(ni)。

6. 安(an)全(quan)可靠：設(she)備(bei)具備(bei)過(guo)溫、過(guo)壓、過(guo)載等(deng)保護(hu)功能(neng)，確保(bao)測試過(guo)程中的(de)安(an)全可(ke)靠性(xing)。

7. 操(cao)作(zuo)方(fang)便：設備(bei)采用先進的(de)控(kong)制(zhi)系(xi)統(tong)，操(cao)作(zuo)界(jie)面(mian)友好(hao)，參(can)數(shu)設置靈活(huo)，操(cao)作(zuo)簡(jian)便。

總(zong)體而(er)言(yan)，高(gao)低(di)溫低氣(qi)壓試驗箱具(ju)有廣(guang)泛的(de)應(ying)用領域(yu)和(he)較(jiao)高(gao)的(de)性(xing)能(neng)要(yao)求(qiu)，能(neng)夠滿足產(chan)品(pin)在極(ji)差環境下的(de)性(xing)能(neng)測試需(xu)求。

壹(yi)、設(she)備(bei)用途(tu)：

    主(zhu)要(yao)用於航(hang)空、航(hang)天、電(dian)子(zi)、國(guo)防、科(ke)研等(deng)判定(ding)電工、電子(zi)科技(ji)產(chan)品(pin)（包括(kuo)元(yuan)器件、材料(liao)和(he)儀器儀表），在高(gao)原(yuan)氣(qi)候(hou)環境下不同溫(wen)濕度(du)低(di)氣(qi)壓力(li)進行(xing)貯存(cun)運(yun)輸可(ke)靠性(xing)試驗，並(bing)可(ke)同(tong)時(shi)對試件通電進行(xing)電氣(qi)性(xing)能(neng)參(can)數(shu)的(de)測(ce)試。

二(er)、標準依(yi)據：

GB/T 10590-2006高(gao)低(di)溫/低(di)氣(qi)壓試驗箱技(ji)術條件；

GB/T 11159-2010 低(di)氣(qi)壓試驗箱技(ji)術條件；

GB/T 2423.25-2008電(dian)工(gong)電子(zi)產(chan)品(pin)環境試驗　第2部(bu)分(fen)：試驗方(fang)法(fa)　試驗Z/AM：低(di)溫(wen)/低(di)氣(qi)壓綜合試驗；

GB/T 2423.26-2008電(dian)工(gong)電子(zi)產(chan)品(pin)環境試驗　第2部(bu)分(fen)：試驗方(fang)法(fa)　試驗Z/BM：高(gao)溫(wen)/低(di)氣(qi)壓綜合試驗；

GB/T 2423.27-2020 環境試驗 第(di)2部(bu)分(fen)：試驗方(fang)法(fa)：溫(wen)度/低(di)氣(qi)壓或(huo)溫度(du)/濕度(du)/低(di)氣(qi)壓綜合試驗；

GJB 150.2A-2009GJB150.2A-2009裝(zhuang)備(bei)實(shi)驗室環境試驗方(fang)法(fa) 低(di)氣(qi)壓(高(gao)度(du))試驗；

三(san)、主(zhu)要(yao)技(ji)術參(can)數(shu)：

設(she)備(bei)型號： HE-HD-150L HE-HD-225L HE-HD-408L HE-HD-800L HE-HD-1000L

內(nei)箱(xiang)容(rong)積： 150升(sheng) 225升(sheng) 408升(sheng) 800升(sheng) 1000升(sheng)

內(nei)箱(xiang)尺寸(mm)： 500×500×600 500×600×750 800×600×850 1000×800×1000 1000×1000×1000

溫(wen)度(du)範圍：

□ -20℃～150℃

□ -40℃～150℃

□ 按(an)要(yao)求(qiu)定(ding)制(zhi)               

溫(wen)度(du)波動(dong)度(du)： ±0.5℃（常(chang)壓，空載(zai)）

溫(wen)度(du)均勻(yun)度(du)： ≤2℃（常(chang)壓，空載(zai)）

溫(wen)度(du)偏(pian)差(cha)： ≤±2℃（常(chang)壓，空載(zai)）

壓力(li)範圍： 101KPa～1KPa

控(kong)制(zhi)器： PLC可(ke)程式彩(cai)色觸摸(mo)屏控(kong)制(zhi)

壓力(li)傳感器： 電(dian)子(zi)式壓力(li)變送(song)器

溫(wen)度(du)傳感器： 鉑(bo)金(jin)電阻(zu) PT100Ω/MV

內(nei)箱(xiang)材質(zhi)： SUS304#不銹鋼(gang) 

外(wai)箱(xiang)材質(zhi)： SECC冷鋼(gang)板高(gao)溫(wen)烤漆處理

電(dian)源電壓： AC380V±10% 50±0.5Hz 三(san)相(xiang)五線(xian)制(zhi)

安(an)全(quan)保護(hu)： 具(ju)有(you)漏(lou)電(dian)、短路、超溫、電機過(guo)熱、壓縮機超壓、過(guo)載、過(guo)電流保(bao)護

高(gao)低(di)溫低氣(qi)壓試驗箱具(ju)有許(xu)多(duo)好(hao)處，下面(mian)列舉幾點(dian)：1. 產(chan)品(pin)可靠性(xing)測試：通過(guo)模擬(ni)極差(cha)溫(wen)度(du)和(he)低(di)氣(qi)壓條件，可以對產(chan)品(pin)的(de)可(ke)靠性(xing)進行(xing)全面(mian)的(de)測(ce)試。這(zhe)有(you)助(zhu)於發(fa)現產(chan)品(pin)在極(ji)差環境下的(de)脆(cui)弱點(dian)，提(ti)前(qian)解決問(wen)題(ti)，確保(bao)產(chan)品(pin)的(de)可(ke)靠性(xing)和(he)穩(wen)定性(xing)。

2. 產(chan)品(pin)性(xing)能(neng)評估(gu)：高(gao)低(di)溫低氣(qi)壓試驗箱可(ke)以對產(chan)品(pin)在不同溫(wen)度和(he)氣(qi)壓條件下的(de)性(xing)能(neng)進行(xing)評估(gu)。例如，電(dian)子(zi)產(chan)品(pin)在高(gao)溫(wen)環境下可(ke)能(neng)會出(chu)現故障(zhang)或(huo)性(xing)能(neng)下降(jiang)，而(er)汽車(che)零(ling)部件在低溫(wen)環境下可(ke)能(neng)會出(chu)現失效(xiao)。通(tong)過(guo)測試，可以評(ping)估產(chan)品(pin)在不同環境下的(de)適應性(xing)和(he)穩(wen)定性(xing)。

3. 產(chan)品(pin)改進和(he)優(you)化：通(tong)過(guo)高(gao)低(di)溫低氣(qi)壓試驗，可以(yi)發現產(chan)品(pin)的(de)不足之處，為產(chan)品(pin)改進和(he)優(you)化提(ti)供(gong)依(yi)據。通(tong)過(guo)不同溫(wen)度和(he)氣(qi)壓條件下的(de)測(ce)試，可以找(zhao)到產(chan)品(pin)的(de)薄(bo)弱環節，並(bing)針(zhen)對性(xing)地進行(xing)改進和(he)優(you)化，提(ti)高(gao)產(chan)品(pin)的(de)性(xing)能(neng)和(he)質(zhi)量(liang)。

4. 產(chan)品(pin)合規(gui)性(xing)測試：許多(duo)行(xing)業對產(chan)品(pin)的(de)溫(wen)度和(he)氣(qi)壓環境有著(zhe)特(te)定(ding)的(de)要(yao)求(qiu)，例如航(hang)空航(hang)天領(ling)域(yu)對航(hang)空電(dian)子(zi)產(chan)品(pin)的(de)溫(wen)度和(he)低(di)氣(qi)壓要(yao)求(qiu)非(fei)常嚴(yan)格(ge)。高(gao)低(di)溫低氣(qi)壓試驗箱可(ke)以模(mo)擬(ni)這(zhe)些(xie)特殊環境，確保(bao)產(chan)品(pin)符合相(xiang)關(guan)的(de)合規(gui)性(xing)標準(zhun)和(he)要(yao)求(qiu)。

5. 節(jie)省(sheng)成(cheng)本(ben)和(he)時(shi)間：通過(guo)在高(gao)低(di)溫低氣(qi)壓試驗箱中(zhong)進行(xing)測試，可以提(ti)前(qian)發現產(chan)品(pin)的(de)問(wen)題(ti)，避(bi)免(mian)在實(shi)際使(shi)用中出(chu)現故障(zhang)和(he)損(sun)失。這(zhe)可(ke)以(yi)節(jie)省(sheng)維修和(he)維護的(de)成(cheng)本，並(bing)減(jian)少(shao)產(chan)品(pin)的(de)停工(gong)時間(jian)。

綜(zong)上(shang)所(suo)述，高(gao)低(di)溫低氣(qi)壓試驗箱具(ju)有許(xu)多(duo)好(hao)處，可以(yi)提(ti)高(gao)產(chan)品(pin)的(de)可(ke)靠性(xing)和(he)性(xing)能(neng)，促進產(chan)品(pin)的(de)改(gai)進和(he)優(you)化，確(que)保產(chan)品(pin)符合合規(gui)性(xing)要(yao)求(qiu)，同(tong)時(shi)也能(neng)節省(sheng)成(cheng)本(ben)和(he)時(shi)間。