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          東(dong)莞/真空檢(jian)漏法的(de)檢(jian)漏方法介紹

          發(fa)布日期:2024-08-17      點擊(ji):688

          在(zai)工業(ye)生產(chan)與科研(yan)實(shi)驗中(zhong),確(que)保設備的(de)密(mi)封性(xing)是至(zhi)關(guan)重要的(de)壹環(huan)。無論(lun)是高(gao)精尖的(de)半導體(ti)制(zhi)造(zao)設(she)備,還是日(ri)常生(sheng)活中(zhong)的家(jia)電產(chan)品(pin),壹(yi)旦(dan)存(cun)在泄漏,不僅會(hui)影響產品(pin)性(xing)能(neng),還可能(neng)引發(fa)安全(quan)事故(gu)。因此(ci),真空檢(jian)漏法作(zuo)為(wei)壹種(zhong)高(gao)效、準(zhun)確(que)的檢(jian)測(ce)技(ji)術(shu),被(bei)廣(guang)泛應用於(yu)各個(ge)領域。本文將(jiang)詳(xiang)細(xi)介紹真空檢(jian)漏法的(de)幾種(zhong)主(zhu)要檢(jian)漏方法,包括氦(hai)質譜(pu)檢(jian)漏法、壓(ya)力(li)衰(shuai)減(jian)法、鹵素(su)檢(jian)漏(lou)法以及超聲(sheng)波(bo)檢(jian)漏(lou)法,並(bing)探討(tao)它們(men)的原(yuan)理、應用場景(jing)及優缺點。

          觸(chu)摸(mo)屏(ping)真空幹(gan)燥(zao)箱(xiang)3.jpg

           壹(yi)、氦質譜(pu)檢(jian)漏法

          氦(hai)質譜(pu)檢(jian)漏法是當(dang)前(qian)最為靈敏的檢漏(lou)技(ji)術(shu)之壹(yi),其檢測(ce)靈敏度(du)可達(da)10^-12 Pa·m³/s甚至更(geng)高。該(gai)方法基(ji)於(yu)氦氣的特殊性(xing)質——極低(di)的(de)分(fen)子量(liang)擴(kuo)散速度(du),利用質譜(pu)儀對(dui)氦(hai)氣分子進(jin)行(xing)識(shi)別(bie)和測量(liang)。

          原(yuan)理:檢漏時,首(shou)先(xian)向(xiang)被(bei)檢(jian)件(jian)內部充(chong)入壹定(ding)量(liang)的(de)氦氣或使被(bei)檢(jian)件(jian)處(chu)於(yu)真空狀態(tai),再用氦(hai)氣噴槍在(zai)被(bei)檢(jian)件(jian)外(wai)部(bu)可疑(yi)泄漏處(chu)噴射氦氣。若存在(zai)泄漏,氦氣會(hui)通(tong)過泄漏點進(jin)入被(bei)檢(jian)件(jian)內部,隨(sui)後被(bei)真空泵抽(chou)出(chu)並(bing)送(song)入質譜(pu)儀進(jin)行(xing)分(fen)析。質譜(pu)儀中(zhong)的磁(ci)場會(hui)將不(bu)同質量(liang)的(de)離(li)子分(fen)離(li),而氦(hai)離(li)子因(yin)其特定(ding)的(de)質量(liang)數(shu)被(bei)識(shi)別(bie)並計數,從而確(que)定泄漏的存(cun)在及其大小。

          應用場景(jing):氦(hai)質譜(pu)檢(jian)漏法特(te)別(bie)適用於高精(jing)度(du)要求的(de)檢(jian)漏場景(jing),如(ru)半導體(ti)制(zhi)造(zao)、航(hang)空(kong)航(hang)天(tian)、核工業(ye)等領域。

          優(you)缺點:優(you)點是檢(jian)測靈敏度(du)高,可定(ding)位微小泄漏;缺點是氦(hai)氣成本較(jiao)高(gao),且(qie)需(xu)專(zhuan)業(ye)設備操作(zuo)。

           二(er)、壓力(li)衰(shuai)減(jian)法

          壓(ya)力(li)衰(shuai)減(jian)法是壹(yi)種(zhong)基(ji)於氣體(ti)壓(ya)力(li)變化來(lai)檢測(ce)泄漏的方法,其原(yuan)理簡(jian)單(dan),操作(zuo)便捷(jie)。

          原(yuan)理:將被(bei)檢(jian)件(jian)內部充(chong)入壹定(ding)壓(ya)力(li)的(de)氣體(ti)(通(tong)常為(wei)幹燥(zao)空(kong)氣或氮(dan)氣),然後封閉所(suo)有(you)開口(kou),記(ji)錄初始(shi)壓力(li)值(zhi)。在(zai)壹段時(shi)間(jian)內觀察壓(ya)力(li)的(de)變化,若(ruo)壓(ya)力(li)下(xia)降(jiang)超過預(yu)設閾(yu)值(zhi),則(ze)表明(ming)存(cun)在(zai)泄漏。

          應用場景(jing):壓(ya)力(li)衰(shuai)減(jian)法適用於大型容(rong)器、管(guan)道、汽(qi)車空(kong)調系統等的檢(jian)漏。

          優(you)缺點:優(you)點是設(she)備成本低,易(yi)於(yu)實(shi)施;缺點是檢(jian)測靈敏度(du)相對(dui)較(jiao)低(di),難(nan)以發(fa)現微小泄漏,且(qie)易(yi)受環境(jing)溫度(du)等因素(su)影(ying)響。

           三、鹵素(su)檢(jian)漏(lou)法

          鹵素(su)檢(jian)漏(lou)法利(li)用(yong)鹵素(su)氣體(ti)(如(ru)氟利(li)昂、氯(lv)氣等)作為(wei)示蹤氣體(ti),通(tong)過檢測(ce)鹵素(su)氣體(ti)在(zai)被(bei)檢(jian)件(jian)中(zhong)的濃(nong)度(du)變化來(lai)判斷(duan)泄漏。

          原(yuan)理:與氦質譜(pu)檢(jian)漏法類(lei)似,鹵素(su)檢(jian)漏(lou)法也(ye)是在(zai)被(bei)檢(jian)件(jian)外(wai)部(bu)噴射鹵素(su)氣體(ti),但(dan)檢測手段不(bu)同(tong)。鹵素(su)氣體(ti)具有(you)特殊的(de)化學性質,可與特定(ding)的檢測(ce)劑(ji)發(fa)生反應,產生(sheng)明顯(xian)的(de)顏(yan)色(se)變化或(huo)熒光信(xin)號(hao),從而指(zhi)示泄漏位置。

          應用場景(jing):鹵素(su)檢(jian)漏(lou)法適用於制(zhi)冷(leng)設(she)備、空(kong)調(tiao)系統(tong)、壓力(li)容(rong)器等的檢(jian)漏。

          優(you)缺點:優(you)點是檢(jian)測速度(du)快,直觀易(yi)見(jian);缺點是鹵素(su)氣體(ti)可能(neng)對(dui)環(huan)境(jing)和人體(ti)有(you)害,需(xu)采取(qu)防護(hu)措施。

           四(si)、超聲(sheng)波檢(jian)漏法

          超(chao)聲波檢漏(lou)法利(li)用(yong)超聲(sheng)波在傳(chuan)播(bo)過程(cheng)中(zhong)遇(yu)到(dao)泄漏點時(shi)會(hui)產生(sheng)反射、散射等現象的原(yuan)理,通(tong)過檢測(ce)這些超(chao)聲(sheng)波(bo)信(xin)號(hao)來(lai)發現(xian)泄漏。

          原(yuan)理:當氣體(ti)或(huo)液(ye)體(ti)通(tong)過泄漏孔時(shi),會(hui)形成湍流,進(jin)而(er)產(chan)生超(chao)聲波(bo)。利(li)用(yong)超(chao)聲波探頭(tou)在被(bei)檢(jian)件(jian)表面移動(dong),捕(bu)捉(zhuo)這(zhe)些(xie)超(chao)聲波信(xin)號(hao),並通(tong)過信(xin)號(hao)處(chu)理技(ji)術(shu)進(jin)行(xing)分(fen)析,即(ji)可確(que)定泄漏位置。

          應用場景(jing):超(chao)聲波(bo)檢漏法適用於液(ye)體(ti)、氣體(ti)管(guan)道、閥(fa)門(men)、法蘭(lan)連(lian)接處(chu)等的檢(jian)漏。

          優(you)缺點:優(you)點是無需(xu)對(dui)被(bei)檢(jian)件(jian)充(chong)註示蹤氣體(ti),非接觸(chu)式(shi)檢(jian)測,對(dui)設(she)備無損害(hai);缺點是對(dui)環(huan)境(jing)噪(zao)聲敏(min)感(gan),需(xu)在(zai)安靜環(huan)境(jing)下(xia)操作(zuo)。

          綜(zong)上(shang)所(suo)述(shu),真空檢(jian)漏法包括氦(hai)質譜(pu)檢(jian)漏法、壓(ya)力(li)衰(shuai)減(jian)法、鹵素(su)檢(jian)漏(lou)法和超聲(sheng)波檢(jian)漏(lou)法等多(duo)種(zhong)方法,每(mei)種(zhong)方法都(dou)有其優勢(shi)和適用場景(jing)。在(zai)實(shi)際應用中(zhong),應根(gen)據(ju)被(bei)檢(jian)件(jian)的(de)特(te)性(xing)、檢測要求及成本考慮(lv),選擇合(he)適的檢漏方法,以確(que)保檢測(ce)結果的(de)準(zhun)確(que)性和可靠性。隨(sui)著科技(ji)的(de)不(bu)斷(duan)進(jin)步(bu),真空檢(jian)漏技(ji)術(shu)也(ye)將(jiang)不(bu)斷(duan)創新(xin)和發展,為(wei)各行各業(ye)提供(gong)更加高(gao)效(xiao)、精準(zhun)的(de)解(jie)決(jue)方案。

           


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