HE-LT-600V高(gao)壓漏(lou)電(dian)起痕試(shi)驗(yan)儀(yi)的(de)正確操作(zuo)與(yu)註意事(shi)項
在(zai)電(dian)力工(gong)程與(yu)電(dian)子設備(bei)的(de)研(yan)發、生產與(yu)質(zhi)量控制過(guo)程(cheng)中,高壓漏(lou)電(dian)起痕試(shi)驗(yan)(High Voltage Tracking and Erosion Test, HVTT)是壹(yi)項至關(guan)重要的(de)測(ce)試(shi),它(ta)用於評估(gu)材料(liao)在(zai)高(gao)壓、潮濕及汙染環境(jing)下的(de)電(dian)氣絕緣性能。高(gao)壓漏(lou)電(dian)起痕試(shi)驗(yan)儀(yi)作(zuo)為執(zhi)行這壹(yi)試驗的(de)關(guan)鍵設備(bei),其(qi)正確操作(zuo)與(yu)註意事(shi)項直(zhi)接關(guan)系到(dao)測(ce)試(shi)結果(guo)的(de)準(zhun)確性和設備(bei)的(de)安(an)全性(xing)。以下將詳(xiang)細(xi)闡述高(gao)壓漏(lou)電(dian)起痕試(shi)驗(yan)儀(yi)的(de)操(cao)作(zuo)註意事(shi)項,以(yi)確(que)保(bao)試驗過(guo)程(cheng)的(de)順(shun)利(li)進行和測(ce)試(shi)結果(guo)的(de)可(ke)靠(kao)性。


壹(yi)、試驗前(qian)的(de)準(zhun)備與(yu)檢(jian)查(zha)
1. 設備(bei)檢(jian)查(zha)
首先(xian),確(que)保高壓漏(lou)電(dian)起痕試(shi)驗(yan)儀(yi)處(chu)於良好(hao)狀態(tai),檢(jian)查(zha)電源連(lian)接是否穩(wen)固(gu),接地是(shi)否(fou)良好(hao),避免因電氣連(lian)接問題導致的(de)安(an)全隱患(huan)。
檢(jian)查(zha)試驗箱(xiang)內(nei)部(bu)清潔無雜(za)物(wu),尤其是(shi)電極(ji)表(biao)面需(xu)保(bao)持(chi)光(guang)滑(hua)無劃(hua)痕(hen),以免影響測(ce)試(shi)結果(guo)的(de)準(zhun)確性。
驗證試驗所需(xu)的(de)溶(rong)液(ye)(如(ru)氯化(hua)銨溶(rong)液(ye))濃(nong)度是(shi)否符(fu)合(he)標準(zhun)要求(qiu),並(bing)確(que)保溶(rong)液(ye)新(xin)鮮無汙染。
2. 試樣準備
試樣應(ying)按(an)照(zhao)相(xiang)關(guan)標準規(gui)定(ding)進(jin)行裁(cai)剪和預(yu)處(chu)理,確保尺(chi)寸、形(xing)狀及表(biao)面狀態(tai)符(fu)合(he)測(ce)試(shi)要求(qiu)。
清潔試(shi)樣表(biao)面,去(qu)除油(you)脂(zhi)、灰(hui)塵等(deng)可(ke)能影響試驗(yan)結果(guo)的(de)雜(za)質。
記錄試樣(yang)的(de)基(ji)本(ben)信息(xi),如(ru)材(cai)料(liao)類(lei)型、厚度(du)、預處理條件等(deng),以(yi)備後續數據(ju)分(fen)析之用。
3. 儀(yi)器(qi)校(xiao)準(zhun)
定(ding)期對高(gao)壓漏(lou)電(dian)起痕試(shi)驗(yan)儀(yi)進(jin)行校(xiao)準(zhun),確保(bao)電壓、電(dian)流(liu)、時(shi)間等(deng)參數的(de)準(zhun)確性。
校(xiao)準(zhun)時(shi)應(ying)使用標(biao)準(zhun)試(shi)樣(yang),並(bing)按(an)照儀(yi)器(qi)說(shuo)明(ming)書中的(de)校(xiao)準(zhun)步驟進(jin)行操作(zuo)。
二、操作(zuo)過程(cheng)中的(de)註意事(shi)項
1. 安(an)全防(fang)護(hu)
操作(zuo)人員需(xu)穿(chuan)戴絕緣手套(tao)、防(fang)護(hu)眼鏡(jing)等個(ge)人防(fang)護(hu)裝(zhuang)備,以(yi)防(fang)電(dian)擊或(huo)溶液(ye)濺入(ru)眼(yan)睛。
在(zai)試(shi)驗過程(cheng)中,嚴禁(jin)觸碰(peng)高(gao)壓電(dian)極(ji)及帶(dai)電部分,確保人身(shen)安(an)全。
2. 溶液(ye)滴加
使用專用滴管或(huo)註射(she)器(qi)將規(gui)定(ding)量(liang)的(de)溶(rong)液(ye)均(jun)勻滴加在(zai)試(shi)樣表(biao)面,註意避(bi)免溶液(ye)濺出試驗(yan)箱(xiang)外(wai)。
滴加溶(rong)液(ye)後,應(ying)立(li)即(ji)啟動試驗,避(bi)免溶液(ye)蒸發影響測(ce)試(shi)結果(guo)。
3. 電壓施(shi)加
按照試驗標準設置(zhi)合(he)適的(de)電(dian)壓值(zhi),並(bing)緩慢增加電(dian)壓至預定(ding)值(zhi),避(bi)免電壓突(tu)變(bian)對試(shi)樣(yang)造成(cheng)沖擊。
在(zai)試(shi)驗過程(cheng)中,密切監(jian)視電壓、電(dian)流(liu)的(de)變(bian)化情(qing)況,如(ru)有(you)異(yi)常應(ying)立(li)即(ji)停(ting)機(ji)檢(jian)查(zha)。
4. 觀(guan)察(cha)與(yu)記(ji)錄
試驗過程中,需(xu)仔(zai)細(xi)觀(guan)察(cha)試(shi)樣(yang)表(biao)面的(de)變(bian)化,如(ru)起痕、碳(tan)化(hua)、侵蝕(shi)等(deng)現象,並(bing)記(ji)錄發生的(de)時(shi)間、位(wei)置(zhi)及(ji)形(xing)態(tai)。
定(ding)期記錄試驗(yan)過(guo)程(cheng)中的(de)電(dian)壓、電(dian)流(liu)、時(shi)間等(deng)關(guan)鍵參(can)數,確保(bao)數據(ju)的(de)完(wan)整性和可(ke)追(zhui)溯性(xing)。
5. 試驗結束(shu)處(chu)理
試驗結束(shu)後(hou),應(ying)立(li)即(ji)切(qie)斷電源,等(deng)待(dai)設備(bei)充(chong)分(fen)放電後再(zai)進行後續(xu)操(cao)作(zuo)。
清理試驗箱(xiang)內(nei)部(bu)及電極(ji)表(biao)面的(de)殘(can)留(liu)物,保(bao)持(chi)設備(bei)整潔。
對試(shi)驗(yan)數據(ju)進(jin)行整理和分析,編寫試驗(yan)報(bao)告。
三、維護(hu)與(yu)保(bao)養
1. 定(ding)期維護(hu)
定(ding)期對高(gao)壓漏(lou)電(dian)起痕試(shi)驗(yan)儀(yi)進(jin)行維護(hu),檢(jian)查(zha)電氣連(lian)接、機(ji)械(xie)部(bu)件及(ji)密封性(xing)能是(shi)否(fou)良好(hao)。
清理設備(bei)內(nei)部(bu)的(de)灰(hui)塵和(he)汙垢(gou),保(bao)持(chi)設備(bei)的(de)通(tong)風散(san)熱效果(guo)。
2. 部件更(geng)換
對於磨損嚴重(zhong)或(huo)損壞(huai)的(de)部(bu)件,如(ru)電(dian)極(ji)、密封圈(quan)等,應(ying)及(ji)時(shi)進行更換,以(yi)確保(bao)設備(bei)的(de)正常運行和測(ce)試(shi)的(de)準(zhun)確性。
3. 存儲(chu)環(huan)境(jing)
設備(bei)應(ying)存(cun)放在(zai)幹(gan)燥、通風、無腐蝕(shi)性(xing)氣體(ti)的(de)環(huan)境(jing)中,避免陽光直射(she)和(he)潮濕。
長(chang)期不使用時(shi),應(ying)切(qie)斷(duan)電(dian)源(yuan),並(bing)定(ding)期進行通電(dian)檢(jian)查(zha),以防(fang)設備(bei)受潮或(huo)損壞(huai)。
四、技術參數
設備(bei)型號: HE-LT-600V、 HE-LT-600VP
控制系(xi)統(tong): 按鍵式控制、 PLC + 觸摸屏控(kong)制
打印(yin)功能: 無 微型打印(yin)機(ji),自動打(da)印(yin)測(ce)試(shi)數據(ju)
箱(xiang)體(ti)內(nei)容(rong)積(ji): ≥0.5立(li)方(fang)米,帶玻璃(li)觀(guan)察(cha)門
電氣負載(zai): 試驗電壓在(zai) 100 ~ 600V 之間可(ke)調(tiao),短(duan)路電(dian)流(liu)在(zai)1A ± 0.1A 時(shi),電壓下降應(ying)不超(chao)過10%,當試驗回路中,短(duan)路漏(lou)電電流(liu)等(deng)於或(huo)大於 0.5A 時(shi),時(shi)間維持(chi) 2 秒鐘,繼電器(qi)動作(zuo),切斷(duan)電(dian)流(liu),指示試品(pin)不合(he)格(ge)。
兩(liang)極(ji)對試(shi)樣(yang)作(zuo)用力: 采(cai)用矩形鉑金電(dian)極(ji),兩(liang)極(ji)對試(shi)樣(yang)的(de)作(zuo)用力分別(bie)為 1.0N ± 0.05N
滴液(ye)裝(zhuang)置(zhi): 滴液(ye)高度(du)從 30mm ~ 40mm 可(ke)調(tiao),滴液(ye)大小 44 ~ 50 滴 / cm³,滴液(ye)時(shi)間間隔(ge) 30 ± 1 秒
計(ji)時(shi)器(qi): 采(cai)用進(jin)口(kou)計(ji)時(shi)器(qi),0 ~ 99 分 99 秒範(fan)圍內(nei)可(ke)調(tiao),精度(du)±0.1秒
電流(liu)表(biao): 采(cai)用精(jing)密儀(yi)表(biao),精度(du)達0.01A
電極(ji): 采(cai)用鉑金電(dian)極(ji),耐高(gao)溫耐腐蝕(shi)
使用電(dian)源(yuan): AC 220V,50Hz


