砂(sha)塵(chen)試(shi)驗箱(xiang)中(zhong)A類(lei)型試(shi)樣的(de)外殼(ke)與B類(lei)型的(de)主(zhu)要區(qu)別在(zai)於是(shi)否(fou)需要在(zai)砂(sha)塵(chen)試(shi)驗中(zhong)模擬(ni)正常(chang)使(shi)用時的負(fu)壓(ya)狀(zhuang)態。

A類(lei)型試(shi)樣的(de)外殼(ke)

· 特(te)點：在(zai)正常(chang)使(shi)用時，其內(nei)部(bu)氣(qi)壓(ya)低(di)於(yu)周(zhou)圍大(da)氣壓(ya)。

· 測(ce)試(shi)要求(qiu)：在(zai)進(jin)行IP5X試(shi)驗時(shi)，需要在(zai)外殼(ke)的易(yi)換(huan)部(bu)件(jian)位置(zhi)設(she)置(zhi)抽(chou)氣(qi)孔(kong)，並通過(guo)軟管(guan)將試(shi)樣上(shang)的(de)抽(chou)氣(qi)口與真空(kong)系統連(lian)接，以模(mo)擬(ni)實際(ji)使用(yong)時(shi)的(de)負(fu)壓(ya)狀(zhuang)態。抽(chou)氣(qi)量通常(chang)為80倍(bei)被(bei)試(shi)外殼(ke)或易(yi)損(sun)部(bu)件(jian)容(rong)積，抽(chou)氣(qi)速(su)度每(mei)小(xiao)時(shi)不(bu)超過60倍(bei)外殼(ke)容積，且(qie)任何(he)情況下(xia)的(de)壓(ya)差(cha)不(bu)得超過2kPa（20mbar）。

B類(lei)型試(shi)樣的(de)外殼(ke)

· 特(te)點：如果(guo)產(chan)品(pin)標(biao)準(zhun)明(ming)確規(gui)定為B類(lei)外殼(ke)，則其內(nei)部(bu)氣(qi)壓(ya)與(yu)周(zhou)圍大(da)氣壓(ya)力相(xiang)同。

· 測(ce)試(shi)要求(qiu)：在(zai)進(jin)行IP5X試(shi)驗時(shi)，不(bu)需要對被(bei)檢測(ce)的(de)外殼(ke)進(jin)行額(e)外的抽(chou)氣(qi)處理。

總(zong)結(jie)

A類(lei)型和B類(lei)型試(shi)樣的(de)外殼(ke)在(zai)砂(sha)塵(chen)試(shi)驗中(zhong)的主(zhu)要區(qu)別在(zai)於負(fu)壓(ya)模(mo)擬(ni)的(de)有無(wu)。A類(lei)型需要通過(guo)抽(chou)氣(qi)來(lai)模擬實際(ji)使用(yong)時(shi)的(de)負(fu)壓(ya)狀(zhuang)態，而B類(lei)型則(ze)不(bu)需要這(zhe)壹步(bu)驟(zhou)。這(zhe)種(zhong)區(qu)分(fen)有助於更準(zhun)確(que)地評(ping)估產(chan)品(pin)在(zai)實際(ji)使用(yong)環(huan)境(jing)中(zhong)對沙(sha)塵(chen)的防(fang)護(hu)能(neng)力(li)。