電(dian)池性能衰退(tui)的(de)量(liang)化分析(xi):雙(shuang)層(ceng)高溫老(lao)化(hua)箱的測(ce)試(shi)之(zhi)道(dao)
雙(shuang)層(ceng)電池(chi)高溫老(lao)化(hua)箱能夠(gou)測(ce)試(shi)出(chu)電(dian)池(chi)的(de)性能衰退(tui)情(qing)況(kuang)。
雙(shuang)層(ceng)電池(chi)高溫老(lao)化(hua)箱主(zhu)要(yao)用(yong)於(yu)電池(chi)安(an)全(quan)性能檢(jian)測(ce)中(zhong)的爐(lu)熱試驗、加(jia)熱測(ce)試(shi)等,通過模(mo)擬高溫環(huan)境對(dui)電(dian)池(chi)進(jin)行長時(shi)間的(de)老(lao)化(hua)測(ce)試(shi)。在測(ce)試(shi)過程(cheng)中(zhong),設(she)備可以精確(que)控(kong)制(zhi)並維持(chi)設(she)定(ding)的(de)老(lao)化(hua)溫度,同時(shi)支(zhi)持(chi)遠程(cheng)監控(kong)與數(shu)據記錄,用(yong)戶(hu)可(ke)以實時(shi)查(zha)看(kan)測(ce)試(shi)狀態並獲(huo)取測(ce)試(shi)數(shu)據(ju)。
當(dang)電池在高溫環(huan)境下(xia)長(chang)時間工作(zuo)時(shi),其(qi)內部的化(hua)學反應(ying)會(hui)加(jia)速,從(cong)而導致電池(chi)容(rong)量(liang)的損失(shi)、內阻的增(zeng)加以(yi)及(ji)壽(shou)命(ming)的縮(suo)短(duan)等性能衰退(tui)現(xian)象。雙(shuang)層(ceng)電池(chi)高溫老(lao)化(hua)箱能夠(gou)模(mo)擬這種(zhong)高溫環(huan)境,並通(tong)過長(chang)時間(jian)的測(ce)試(shi)來(lai)觀察(cha)和記錄電(dian)池(chi)的(de)性能變化(hua)。通(tong)過對(dui)比測(ce)試(shi)前(qian)後(hou)的(de)電池性能參(can)數(shu)(如容(rong)量(liang)、內阻、壓(ya)降(jiang)等),可以評估電(dian)池(chi)在高溫環(huan)境下(xia)的(de)性能衰退(tui)情(qing)況(kuang)。


因(yin)此,雙(shuang)層(ceng)電池(chi)高溫老(lao)化(hua)箱是評(ping)估電(dian)池(chi)在高溫環(huan)境下(xia)性能衰退(tui)情(qing)況(kuang)的(de)重(zhong)要(yao)工(gong)具之壹,廣泛(fan)應(ying)用(yong)於(yu)新(xin)能源汽車、儲能(neng)系統(tong)、消費電子等多個(ge)領(ling)域。
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