為何恒(heng)溫恒濕試驗(yan)箱無法達到目標溫度？
恒溫恒濕試驗(yan)箱溫度達不(bu)到設(she)定值(zhi)，可(ke)能是設備(bei)自(zi)身(shen)故(gu)障、操(cao)作不當或環境因(yin)素(su)導致(zhi)，具體(ti)原因(yin)可(ke)從以下(xia)幾類(lei)排(pai)查：
壹、制(zhi)冷 / 加熱(re)系統(tong)故(gu)障(zhang)
加熱(re)系統(tong)問(wen)題加熱(re)管損壞(huai)：若低(di)溫能達到但(dan)高(gao)溫達不到，可(ke)能是加熱(re)管燒(shao)斷(duan)或(huo)接(jie)觸不(bu)良(liang)，需(xu)用(yong)萬用(yong)表(biao)檢測(ce)加熱(re)管電阻(zu)是否(fou)正常(chang)。加熱(re)繼電器(qi)故(gu)障：繼電器(qi)觸點(dian)粘連或失(shi)靈(ling)，導致(zhi)加熱(re)電(dian)路(lu)無法導通，無法正常加熱(re)。
制(zhi)冷系統(tong)問(wen)題制(zhi)冷劑(ji)泄(xie)漏(lou)：制(zhi)冷量不(bu)足(zu)，表現(xian)為(wei)低(di)溫無法達到（如設定 - 20℃，實際(ji)只(zhi)能(neng)降(jiang)到(dao) - 10℃），需(xu)檢(jian)測(ce)管道(dao)密(mi)封性並(bing)補(bu)充制(zhi)冷劑(ji)。壓(ya)縮(suo)機(ji)故障：壓(ya)縮(suo)機(ji)無法啟動或效率(lv)下(xia)降(jiang)，可(ke)能是電容損壞(huai)、繞(rao)組(zu)燒(shao)毀(hui)，或(huo)長(chang)期(qi)高(gao)負荷運(yun)行導致(zhi)老(lao)化。冷凝器(qi) / 蒸發器(qi)臟(zang)堵：散熱(re)片積(ji)灰、結霜過(guo)厚(hou)，影響(xiang)換(huan)熱(re)效(xiao)率(lv)，導致(zhi)制(zhi)冷能力(li)下(xia)降(jiang)（尤(you)其(qi)低(di)溫環境下(xia)易結霜，需(xu)定期(qi)除霜(shuang)）。
二、傳感器(qi)或(huo)控制(zhi)系統(tong)異(yi)常(chang)
溫度傳感(gan)器(qi)故(gu)障傳感器(qi)（如鉑電阻(zu)、熱(re)電(dian)偶(ou)）老化或(huo)漂(piao)移(yi)，導致(zhi)檢(jian)測(ce)值(zhi)與(yu)實際(ji)箱內溫度偏(pian)差，設(she)備(bei)誤判(pan) “已達(da)到設(she)定值(zhi)" 而停(ting)止工作。傳感(gan)器(qi)位(wei)置不(bu)當：若傳感(gan)器(qi)靠(kao)近(jin)加熱(re) / 制(zhi)冷部(bu)件，可(ke)能檢測(ce)到(dao)局部(bu)溫度而非(fei)箱內平(ping)均(jun)溫度，造(zao)成誤控(kong)。
控制(zhi)器(qi)參(can)數(shu)錯誤PID 參(can)數(shu)設置不(bu)合理(li)：溫度控制(zhi)的(de)比例、積(ji)分、微(wei)分參(can)數(shu)失調，導致(zhi)系統(tong)響(xiang)應(ying)慢、無法穩定達(da)到目標值（需(xu)重(zhong)新校準參數(shu)）。控制(zhi)器(qi)本(ben)身(shen)故(gu)障：程序出(chu)錯(cuo)或(huo)硬件(jian)損壞(huai)，無法正常發出(chu)加熱(re) / 制(zhi)冷指令(ling)。
三、設備(bei)負載或結構(gou)問題
負載過大(da)箱內放置的(de)測(ce)試(shi)樣(yang)品(pin)過(guo)多、體積(ji)過大(da)，或(huo)樣(yang)品(pin)本(ben)身(shen)散熱(re) / 吸(xi)熱(re)能(neng)力(li)強(qiang)（如金屬件），導致(zhi)設(she)備(bei)無法在短(duan)時(shi)間(jian)內平(ping)衡溫度。樣(yang)品(pin)堵(du)塞(sai)風(feng)道(dao)：影響(xiang)箱內氣流循環，溫度分布不(bu)均(jun)，局部(bu)無法達到設定值(zhi)。
密封性能(neng)下(xia)降(jiang)箱門密封條(tiao)老化、變(bian)形或(huo)破(po)損，導致(zhi)冷氣 / 熱(re)氣(qi)泄(xie)漏(lou)，外(wai)界環境溫度影響(xiang)箱內溫控（尤(you)其(qi)低(di)溫或高溫測(ce)試(shi)時(shi)更明顯）。觀察窗玻璃(li)密(mi)封不良(liang)，同(tong)樣(yang)會(hui)造(zao)成能(neng)量流失(shi)。
四、環境因(yin)素(su)影響(xiang)
環境溫度不適設備(bei)放置環境溫度過高(gao)（如夏(xia)季無空(kong)調(tiao)的(de)車(che)間(jian)），會(hui)導致(zhi)制(zhi)冷系統(tong)散熱(re)困(kun)難，低(di)溫無法達標；環境溫度過低(di)（如冬季無供暖的(de)實驗(yan)室(shi)），可(ke)能影響(xiang)加熱(re)系統(tong)效(xiao)率(lv)（尤(you)其(qi)對小(xiao)功(gong)率(lv)設備(bei)）。
電(dian)源(yuan)或(huo)電(dian)壓(ya)問(wen)題供(gong)電電(dian)壓(ya)不(bu)穩定、缺相(xiang)，導致(zhi)加熱(re)管、壓(ya)縮(suo)機(ji)等部(bu)件無法滿負荷工作(zuo)，影響(xiang)溫控效果(guo)。
五、操(cao)作或設(she)置失(shi)誤
誤設(she) “程序(xu)模(mo)式" 而非(fei) “定值(zhi)模(mo)式"，導致(zhi)設(she)備(bei)按(an)分段程序運(yun)行，未進(jin)入(ru)目標溫度階段；
設定溫度超出(chu)設備(bei)量(liang)程（如設備(bei)最(zui)大(da)低(di)溫為 - 40℃，卻設定 - 50℃）；
未關(guan)閉箱門或箱門未鎖(suo)緊(jin)，導致(zhi)溫度無法維持。
排(pai)查時(shi)可(ke)先(xian)從(cong)簡單(dan)因(yin)素入(ru)手(shou)（如檢查箱門密封、樣(yang)品(pin)負載、設置參(can)數(shu)），再逐步(bu)檢(jian)測(ce)硬(ying)件（傳感器(qi)、加熱(re) / 制(zhi)冷部(bu)件），必要(yao)時(shi)聯(lian)系廠(chang)家(jia)售後(hou)進(jin)行專業(ye)檢(jian)修，避(bi)免因(yin)故障擴(kuo)大影響(xiang)設(she)備(bei)壽(shou)命(ming)。
