紫外(wai)線輻照強度(du)測試機(ji) 抗(kang)紫外(wai)線老化箱 UV測試設備
紫外(wai)線老化試驗箱
設(she)備用(yong)途
本試驗設(she)備模(mo)擬由紫外(wai)光、雨(yu)水、露(lu)水引(yin)起的破壞(huai)，通(tong)過將(jiang)被測(ce)材(cai)料暴露(lu)於(yu)受控(kong)高溫(wen)下光照與(yu)水(shui)份(fen)的交(jiao)變循環中(zhong)，對(dui)材(cai)料進行測(ce)試。它(ta)用紫外(wai)線燈(deng)管(guan)模(mo)擬陽(yang)光的輻射作(zuo)用，用(yong)凝(ning)結(jie)水和(he)噴(pen)水(shui)來模(mo)擬露(lu)水(shui)和雨(yu)水。只(zhi)需幾天或幾(ji)個星期(qi)的時間，紫外(wai)線輻照設備就(jiu)可(ke)以再(zai)現(xian)在(zai)室(shi)外(wai)需要幾個月(yue)甚至幾年(nian)的時間才(cai)會發(fa)生的損傷(shang)，其中(zhong)包(bao)括(kuo)褪(tui)色、顏色變化、失(shi)去光澤(ze)、粉化、破裂(lie)、裂(lie)紋、起皺(zhou)、起泡、脆(cui)化、強度降(jiang)低、氧(yang)化等(deng)，其測(ce)試結(jie)果可用(yong)於(yu)選擇(ze)新材(cai)料，改(gai)善(shan)現(xian)有(you)材料，或評(ping)估材(cai)料(liao)配(pei)方的改(gai)變。
符合標(biao)準(zhun)
GB/T14552-2008、GB/T16422.3-1997 GB/T16585-96、GB/T16585-1996、GB/T16422.3-1997、：ASTM D4329、ISO 4892-3、ISO 11507、SAE J2020等(deng)
技(ji)術(shu)指標(biao)
| 規(gui)格(ge)型號 | HE-UV8 |
| 工作室尺寸(cun) | 400mm×1140 mm×380 mm （D×W×H） |
| 外(wai)形(xing)尺寸(cun) | 500mm×1300mm×1460 mm （D×W×H） |
| 紫外(wai)燈(deng)管(guan) | UV-A(315～400nm)、UV-B(280～315nm) ，美(mei)國(guo)*ATALS，燈(deng)的中(zhong)心(xin)距離(li)70mm |
| 輻射強(qiang)度 | 0.4W／m2～1W／m2以(yi)內(nei)可調(tiao)（輻照計選(xuan)購(gou)） |
| 光照溫(wen)度(du)範(fan)圍(wei) | 50℃～70℃ |
| 冷(leng)凝(ning)溫(wen)度(du)範(fan)圍(wei) | 40℃～60℃ |
| 光照溫(wen)度(du)容(rong)差(cha) | ≤±2℃ |
| 溫(wen)度(du)波(bo)動(dong)度 | ≤±2℃ |
| 溫(wen)度(du)解析(xi)度(du) | 0.1℃ |
| 黑板(ban)溫(wen)度(du)計 | 測(ce)量(liang)範(fan)圍(wei)30～80℃，容(rong)差(cha)為±1℃ |
| 濕度(du)範(fan)圍(wei) | 45%～90%R.H |
| 控(kong)溫(wen)方(fang)式(shi) | PID自(zi)整(zheng)定控(kong)溫(wen)方(fang)式(shi) |
| 水(shui)槽(cao)要(yao)求(qiu) | 水(shui)深(shen)不大(da)於(yu)25mm，並有(you)供(gong)水(shui)自動(dong)控(kong)制(zhi)器 |
| 標(biao)準(zhun)試件尺寸(cun) | 75×90mm，測(ce)試能力(li)48片(pian)，試件離(li)燈(deng)表面的近平(ping)行(xing)面距離50mm，樣品(pin)的厚(hou)度20mm |
