1.設備名稱：恒(heng)溫(wen)恒(heng)濕(shi)試驗箱(xiang)（恒定(ding)濕(shi)熱試(shi)驗箱(xiang)）

2.試樣限制(zhi)

本試(shi)驗設備禁(jin)止：

    易燃(ran)、易爆(bao)、易揮(hui)發(fa)性物質(zhi)試(shi)樣的試驗或儲存

    腐(fu)蝕(shi)性物質(zhi)試(shi)樣的試驗或儲存

    生(sheng)物試樣的試驗或儲存

    強(qiang)電(dian)磁(ci)發(fa)射源(yuan)試(shi)樣的試驗或儲存

3.容(rong)積(ji)、尺寸(cun)和重(zhong)量(liang)

3.1.標稱內(nei)容(rong)積(ji)

3.2.內(nei)箱(xiang)尺寸(cun)

3.3.外型(xing)尺寸(cun)

3.4.重量

80L

W 400×H 500×D 400mm

W 680×H 1650×D 1150mm

4.性能

4.1.測(ce)試(shi)環境(jing)條件(jian)

4.2.測(ce)試方法

環境(jing)溫(wen)度(du)為+25℃、相對濕(shi)度(du)≤85%、試驗箱(xiang)內(nei)無(wu)試(shi)樣(yang)條件(jian)下(xia)

GB/T5170.2-2008電(dian)工電(dian)子(zi)產(chan)品(pin)溫(wen)度(du)試驗設備檢驗

4.3.溫(wen)度(du)範(fan)圍(wei)

-40℃→+150℃

4.4.溫(wen)度(du)波(bo)動度(du)

±0.5℃

4.5.溫(wen)度(du)偏差

±2.0℃

4.6.濕(shi)度(du)範(fan)圍(wei)

20%～98%R.H

4.7.濕(shi)度(du)波(bo)動度(du)

±2.5%R.H.

4.8.濕(shi)度(du)均勻度(du)

±3.0%RH（濕(shi)度(du)＞ 75%RH）

±5.0%RH（濕(shi)度(du) ≤75%RH）

4.9.升溫(wen)時間

-40℃→+150℃    65min

4.10.降溫(wen)時間

+20℃→-40℃    60min

4.11.負載(zai)情(qing)況

空載(zai)

4.12.溫(wen)濕(shi)度(du)控制範(fan)圍(wei)圖(tu)

4.13.滿足試驗標準

GB/T 2423.1-2008試(shi)驗A：低溫(wen)試(shi)驗方法

GB/T 2423.2-2008 試驗B：高(gao)溫(wen)試(shi)驗方法

GJB 150.3-1986   高溫(wen)試(shi)驗

GJB 150.4-1986   低溫(wen)試(shi)驗

IEC68-2-1 試(shi)驗A：寒(han)冷(leng)

IEC68-2-2 試驗B：幹(gan)熱