紙(zhi)箱包裝運(yun)輸(shu)檢(jian)測設備(bei)
壹、用途(tu)
紙(zhi)箱包裝運(yun)輸(shu)檢(jian)測設備(bei)適(shi)用玩具(ju)、電(dian)子(zi)、家(jia)具(ju)、禮(li)品(pin)、陶瓷(ci)、包(bao)裝等產品(pin)進(jin)行模擬(ni)運(yun)輸測試,符(fu)合(he)EN、ANSI、UL、ASTM、ISTA美國(guo)、歐洲、運(yun)輸(shu)標(biao)準(zhun)。
二、紙(zhi)箱包裝運(yun)輸(shu)檢(jian)測設備(bei)特點:
數(shu)字(zi)儀(yi)表(biao)顯示振動頻率(lv)
同(tong)步靜(jing)噪皮帶(dai)傳動,噪聲(sheng)極低(di)
試(shi)品(pin)裝夾(jia)采(cai)用(yong)導(dao)軌(gui)式,操(cao)作(zuo)方便(bian)、安(an)全(quan)
機(ji)臺底(di)座(zuo)采(cai)用(yong)重(zhong)型(xing)槽(cao)鋼配減振(zhen)膠墊,安裝方(fang)便(bian),運(yun)行平穩,無(wu)需安裝地腳(jiao)螺(luo)絲
直(zhi)流(liu)電(dian)機(ji)調(tiao)速(su),運行平穩,負(fu)載(zai)能(neng)力(li)強
回(hui)轉(zhuan)式(shi)振(zhen)動(俗稱跑(pao)馬(ma)式(shi)),符(fu)合(he)歐美運(yun)輸(shu)標準(zhun)
三(san)、主要技術(shu)參數(shu):
規(gui)格(ge)型號 | HE-ZD-100 | HE-ZD-200 | HE-ZD-300 | HE-ZD-500 | HE-ZD-1000 |
臺面(mian)尺(chi)寸(MM) | 1000*1200 | 1200*1200 | 1200*1300 | 1300*1500 | 1400*1500 |
電(dian)機(ji)功率(lv) | 1HP(750W) | 2HP(1500W) | 3HP(2250W) | 5HP(3750W) | 10HP(7500W) |
機(ji)臺重(zhong)量(liang)(約(yue)) | 200KG | 250KG | 300KG | 400KG | 600KG |
轉(zhuan)速(su)(轉(zhuan)/分鐘(zhong)) | 100~300RPM | 100~300RPM | 150~300RPM | 150~300RPM | 150~300RPM |
調(tiao)整(zheng)速(su)方(fang)式 | DC直(zhi)流(liu)調(tiao)速(su) | AC交流(liu)調(tiao)速(su) | |||
使(shi)用(yong)電(dian)源(yuan) 50HZ | 220V | 380V | |||
速(su)度顯示精度 | 1RPM(轉(zhuan)/分鐘(zhong)) | ||||
振(zhen)動方式(shi) | 往復式(shi)(跑(pao)馬(ma)式(shi)、橢圓(yuan)型(xing)振(zhen)動) | ||||
振(zhen)幅(P-P) | 25.4mm(1英(ying)寸) | ||||
單(dan)位選擇(ze) | H(小(xiao)時)、M(分鐘(zhong))、S(秒(miao)) | ||||
時間設定(ding)範圍(wei) | Oseconds秒(miao)~99hour小時 | ||||
四(si)、實驗(yan)目的(de)
1、任(ren)何產品(pin)因運(yun)送、使(shi)用(yong)、保存、會產生(sheng)碰(peng)撞(zhuang)振(zhen)動而使(shi)產品(pin)於某(mou)壹段時間產生(sheng)不(bu)良(liang)。
2、很(hen)多產品(pin)使(shi)用(yong)中,因習(xi)慣(guan),很(hen)多(duo)產品(pin)皆於此時不良(liang)甚(shen)至剛超(chao)保修期(qi)或(huo)因價(jia)值不(bu)高或因服(fu)務有(you)點難(nan)找(zhao)。
3、真(zhen)正能(neng)於設(she)計生產質量(liang)即(ji)可(ke)幫(bang)助(zhu)產品(pin)預(yu)期(qi)看不到的(de)缺點顯(xian)示(shi)再(zai)加以改進。比(bi)如:
a)設(she)計,可(ke)分析(xi)破環(huan)點、易(yi)不(bu)良點
b)質量(liang),可(ke)分析(xi)每壹批閃(shan)所(suo)產生(sheng)的(de)不(bu)同(tong)易不良點
c)生(sheng)產,可(ke)*壹邊振(zhen)動壹邊測量(liang),更(geng)使(shi)產品(pin)不(bu)良(liang)率(lv)早(zao)發現(xian)
d)耐(nai)久(jiu)測量(liang),讓(rang)產品(pin)耐(nai)久(jiu)使(shi)用(yong)、使(shi)不(bu)耐(nai)久(jiu)的(de)組件(jian)提早(zao)改進,公(gong)司品牌(pai)口碑(bei)即(ji)會(hui)更(geng)好(hao)。



