半導(dao)體芯片(pian)高(gao)低溫試(shi)驗箱(xiang)
更新(xin)時(shi)間:2019-05-23
半導(dao)體芯片(pian)高(gao)低溫試(shi)驗箱(xiang),也稱為(wei)芯片(pian)高(gao)低溫試(shi)驗箱(xiang),高(gao)低溫試(shi)驗箱(xiang),可程(cheng)式(shi)高(gao)低溫試(shi)驗箱(xiang),高(gao)低溫交變(bian)試(shi)驗箱(xiang),高(gao)低溫濕熱(re)試(shi)驗箱(xiang),高(gao)低溫試(shi)驗設(she)備(bei)。
壹、半導(dao)體芯片(pian)高(gao)低溫試(shi)驗箱(xiang)性(xing)能(neng):
指(zhi)氣(qi)冷(leng)式(shi)在室溫20℃,空載(zai)時(shi)
規格型(xing)號(hao):HE-WS-80/100/150/225/408/800/1000(A、B、C、D、E)
容(rong)量(liang):
80升內(nei)箱(xiang)尺(chi)寸(寬(kuan)*高(gao)*深):400X500X400mm
150升內(nei)箱(xiang)尺(chi)寸(寬(kuan)*高(gao)*深):500X600X500mm
225升內(nei)箱(xiang)尺(chi)寸(寬(kuan)*高(gao)*深):600X750X500mm
408升內(nei)箱(xiang)尺(chi)寸(寬(kuan)*高(gao)*深):600X850X800mm
800升內(nei)箱(xiang)尺(chi)寸(寬(kuan)*高(gao)*深):1000X1000X800mm
1000升內(nei)箱(xiang)尺(chi)寸(寬(kuan)*高(gao)*深):1000X1000X1000mm
溫度範(fan)圍(wei):
A表示(shi):0℃~+150℃,B表示(shi):-20℃~+150℃,C表示(shi):-40℃~+150℃,
D表示(shi):-60℃~+150℃,E表示(shi):-70℃~+150℃
溫度精度:±0.01℃
溫度波(bo)動度(du):±0.5℃
溫度均勻(yun)度(du):±2.0℃
濕度(du)範(fan)圍(wei):20%RH~98%RH
濕度(du)精度:±0.1%R.H
濕度(du)波(bo)動度(du):±2.0%R.H.
濕度(du)均勻(yun)度(du):±3%R.H.
升溫速率(lv):平均3℃/min(非(fei)線性(xing)、空載(zai)時(shi);從常溫+25℃升至(zhi)+85℃約20min);可(ke)按(an)要求(qiu)定(ding)制非(fei)標(biao)規(gui)格
降溫速度(du):平(ping)均1℃/min(非(fei)線性(xing)、空載(zai)時(shi);從常溫+25℃降至(zhi)-40℃約65min);可(ke)按(an)要求(qiu)定(ding)制非(fei)標(biao)規(gui)格


二、半導(dao)體芯片(pian)高(gao)低溫試(shi)驗箱(xiang)特點(dian):
1.箱(xiang)體采用(yong)數(shu)控(kong)機(ji)床(chuang)加(jia)工(gong)成型(xing),造型(xing)美觀(guan)大(da)方(fang),並采用無(wu)反作(zuo)用把(ba)手(shou),操作(zuo)簡便。
2.內(nei)箱(xiang)采用(yong)進(jin)口(kou)高(gao)級不(bu)銹鋼(gang)SUS#304鏡(jing)面(mian)鋼(gang)板(ban),外箱(xiang)采A3鋼(gang)板(ban)噴(pen)塑(su),增(zeng)加(jia)了(le)外觀(guan)質感(gan)和潔凈度。
3.大(da)觀(guan)察窗(chuang)附照明(ming)燈(deng)保(bao)持(chi)箱(xiang)內(nei)明(ming)亮,且利(li)用發(fa)熱(re)體內(nei)嵌(qian)式(shi)鋼(gang)化(hua)玻(bo)璃,隨時清(qing)晰(xi)的觀(guan)測箱(xiang)內(nei)狀(zhuang)況(kuang)。
4.箱(xiang)體左側配(pei)直(zhi)徑(jing)50mm或100mm的測(ce)試(shi)孔(kong),可供(gong)外接測試(shi)電(dian)源(yuan)線或信號(hao)線使用(yong)。
5.保(bao)溫材質采用高(gao)密(mi)度(du)玻(bo)璃纖維棉(mian),厚(hou)度為(wei)80-100mm,門與箱(xiang)體之間采用雙(shuang)層耐(nai)高(gao)低溫之高(gao)張(zhang)性(xing)密(mi)封條,以(yi)確(que)保(bao)測(ce)試(shi)區(qu)的密(mi)封。
6.設有(you)獨立降溫報警系(xi)統(tong),超過限(xian)制溫度則(ze)自(zi)動中(zhong)斷運行,保(bao)證(zheng)試(shi)驗安全(quan)進行(xing)不(bu)發(fa)生意(yi)外。
7.補水(shui)箱(xiang)置於(yu)控(kong)制箱(xiang)體右下(xia)部,並有(you)缺(que)水(shui)自(zi)動保(bao)護(hu),更便於操(cao)作(zuo)中補(bu)充(chong)水(shui)源(yuan)。
8.加濕(shi)系(xi)統(tong)管路與(yu)控(kong)制線路板(ban)分開,可避(bi)免因加濕管路漏(lou)水(shui)發(fa)生故(gu)障,提高(gao)安全(quan)性(xing)。
9.水(shui)路系(xi)統(tong)管路電(dian)路系(xi)統(tong)采(cai)用(yong)門式(shi)開啟,方(fang)便維護(hu)和檢(jian)修(xiu)。
10.試(shi)驗箱(xiang)底(di)部(bu)采用(yong)高(gao)品(pin)質可固定(ding)式(shi)PU活動輪(lun)。
三、制冷(leng)系(xi)統(tong):
(1)制冷(leng)機(ji)采(cai)用(yong)全(quan)封閉法國泰康(kang)(或半封閉德(de)國谷輪)壓(ya)縮機(ji)。
(2)冷(leng)凍(dong)系(xi)統(tong)采(cai)用(yong)單元或二元(yuan)式(shi)低溫回(hui)路系(xi)統(tong)設(she)計,采用(yong)風(feng)冷(leng)單(dan)機(ji)壓(ya)縮/風(feng)冷(leng)復(fu)疊(die)壓縮制冷(leng)方(fang)式(shi)。

- 高(gao)低溫濕熱(re)交變(bian)試(shi)驗機(ji)
- 防爆(bao)型(xing)高(gao)低溫濕熱(re)試(shi)驗箱(xiang)
- 高(gao)低溫濕熱(re)環(huan)境(jing)試(shi)驗箱(xiang)
- 濕熱(re)高(gao)低溫循環(huan)箱(xiang) 高(gao)低溫試(shi)驗箱(xiang)
- 高(gao)低溫濕度(du)環(huan)境(jing)試(shi)驗箱(xiang)
- 電池(chi)高(gao)低溫箱(xiang) 高(gao)低溫試(shi)驗箱(xiang)
- 光纜(lan)高(gao)低溫環(huan)境(jing)試(shi)驗箱(xiang)
- 高(gao)低溫恒(heng)定(ding)試(shi)驗箱(xiang)
- 高(gao)低溫老化(hua)試(shi)驗環(huan)境(jing)箱(xiang)
- 高(gao)低溫溫濕度(du)試(shi)驗箱(xiang)



