壹(yi)、可(ke)程(cheng)控(kong)恒(heng)溫(wen)恒(heng)濕(shi)實驗箱性能(neng)：

指氣冷式在(zai)室(shi)溫20℃，空載時

型(xing)號(hao)：HE-WS-80/100/150/225/408/800/1000（A、B、C、D、E）

容(rong)量：

80升內箱(xiang)尺(chi)寸（寬*高*深）：400X500X400mm

150升內箱(xiang)尺(chi)寸（寬*高*深）：500X600X500mm

225升內箱(xiang)尺(chi)寸（寬*高*深）：600X750X500mm

408升內箱(xiang)尺(chi)寸（寬*高*深）：600X850X800mm

800升內箱(xiang)尺(chi)寸（寬*高*深）：1000X1000X800mm

1000升內箱(xiang)尺(chi)寸（寬*高*深）：1000X1000X1000mm

溫度(du)範圍：

A表示(shi)：0℃～+150℃，B表示(shi)：-20℃～+150℃，C表示(shi)：-40℃～+150℃，

D表示(shi)：-60℃～+150℃，E表示(shi)：-70℃～+150℃

溫度(du)精(jing)度(du)：±0.01℃

溫度(du)波(bo)動度(du)：±0.5℃

溫度(du)均(jun)勻(yun)度(du)：±2.0℃

濕度(du)範圍：20%RH～98%RH

濕度(du)精(jing)度(du)：±0.1%R.H

濕度(du)波(bo)動度(du)：±2.0%R.H.

濕度(du)均(jun)勻(yun)度(du)：±3%R.H.

升溫速率：平均(jun)3℃/min（非(fei)線性(xing)、空載時；從(cong)常溫(wen)+25℃升至+85℃約(yue)20min）；可(ke)按要求定(ding)制非(fei)標(biao)規格(ge)

降(jiang)溫(wen)速度(du)：平(ping)均(jun)1℃/min（非(fei)線性(xing)、空載時；從(cong)常溫(wen)+25℃降(jiang)至(zhi)-40℃約(yue)65min）；可(ke)按要求定(ding)制非(fei)標(biao)規格(ge)

二、可(ke)程(cheng)控(kong)恒(heng)溫(wen)恒(heng)濕(shi)實驗箱控(kong)制系(xi)統(tong)：

1.采用進口高(gao)精度(du)溫(wen)濕度(du)控(kong)制儀表，觸摸屏(ping)控(kong)制。

2.溫度(du)控(kong)制采(cai)用(yong)PID+SSR系(xi)統(tong)同頻(pin)道協調控(kong)制。

3.具(ju)有自(zi)動(dong)演(yan)算的(de)功能(neng)，可(ke)將(jiang)溫(wen)度(du)變(bian)化條件立即修正，使溫濕度(du)控(kong)制更(geng)為(wei)jing確穩(wen)定(ding)。

4.控制器操作界面(mian)實時運轉曲線(xian)圖可(ke)由(you)屏(ping)幕(mu)顯示(shi)。

5.采用耐溫低(di)噪音(yin)空調型(xing)電機(ji)，多葉(ye)式離心風輪。

三(san)、制冷系(xi)統(tong)：

1.壓縮機：全封(feng)閉(bi)*法(fa)國泰(tai)康(kang)壓縮機

2.制冷方式：單（雙）機制冷

3.冷凝方(fang)式：強(qiang)制風冷冷卻

4.電磁閥(fa)、油分離器、幹燥過濾(lv)器、修理閥(fa)、冷媒流(liu)量視窗(chuang)均(jun)采(cai)用進口原裝件

四、滿足(zu)試(shi)驗(yan)標(biao)準：

GB 10589-2008 《低(di)溫試(shi)驗箱(xiang)技術條件》

GB 11158-2008 《高溫試驗(yan)箱(xiang)技(ji)術條件》

GB 10592-2008 《高低(di)溫試(shi)驗箱(xiang)技術條件》

GB2423.1-2008 《電工(gong)電子產(chan)品(pin)基(ji)本試(shi)驗(yan)規程(cheng) 試(shi)驗A:低(di)溫試(shi)驗方(fang)法(fa)》

GB2423.2-2008 《電工(gong)電子產(chan)品(pin)基(ji)本試(shi)驗(yan)規程(cheng) 試(shi)驗B:高(gao)溫試驗方法(fa)》

GB2423.4-2008 《電工(gong)電子產(chan)品(pin)基(ji)本試(shi)驗(yan)規程(cheng) 試(shi)驗Db:交變(bian)試驗(yan)方法(fa)》

GB2424.1-2005 《電工(gong)電子產(chan)品(pin)基(ji)本環境試(shi)驗規程(cheng) 高(gao)溫低(di)溫試(shi)驗導(dao)則》

GB2423.22-2008 《電工(gong)電子產(chan)品(pin)基(ji)本試(shi)驗(yan)規程(cheng) 試(shi)驗N:溫(wen)度(du)變(bian)化試驗方(fang)法(fa)》

GB/T5170.2-2008 《電工(gong)電子產(chan)品(pin)環境試(shi)驗設(she)備基(ji)本參(can)數檢定(ding)方(fang)法(fa) 溫度(du)試(shi)驗設(she)備》

GB2423.3－2008試驗C《恒(heng)定(ding)濕(shi)熱(re)試驗(yan)方(fang)法(fa)》

GB2423.4－93試驗D《交變(bian)濕熱(re)試驗(yan)方(fang)法(fa)》