半導體芯片高低溫測(ce)試(shi)機
更(geng)新時間(jian):2019-08-05
半導體芯片高低溫測(ce)試(shi)機,是(shi)汽(qi)車(che)、家電(dian)、科研(yan)等領域*的測(ce)試(shi)設備,用(yong)於(yu)測試(shi)和確(que)定電(dian)工(gong)、電(dian)子及其他產品(pin)及材料(liao)進行(xing)高(gao)溫(wen)、低溫、交變(bian)濕(shi)熱(re)度(du)或(huo)恒(heng)定(ding)試(shi)驗。
- 上壹(yi)個:電子(zi)高低溫測(ce)試(shi)機
- 下(xia)壹個:熒光紫外燈加速耐(nai)候(hou)測試(shi)箱
壹(yi)、半導體芯片高低溫測(ce)試(shi)機性(xing)能:
指氣(qi)冷式在(zai)室(shi)溫(wen)20℃,空載(zai)時
型(xing)號:HE-WS-80/100/150/225/408/800/1000(A、B、C、D、E)
容(rong)量:
80升(sheng)內(nei)箱尺(chi)寸(寬(kuan)*高(gao)*深):400X500X400mm
150升(sheng)內(nei)箱尺(chi)寸(寬(kuan)*高(gao)*深):500X600X500mm
225升(sheng)內(nei)箱尺(chi)寸(寬(kuan)*高(gao)*深):600X750X500mm
408升(sheng)內(nei)箱尺(chi)寸(寬(kuan)*高(gao)*深):600X850X800mm
800升(sheng)內(nei)箱尺(chi)寸(寬(kuan)*高(gao)*深):1000X1000X800mm
1000升(sheng)內(nei)箱尺(chi)寸(寬(kuan)*高(gao)*深):1000X1000X1000mm
溫(wen)度(du)範(fan)圍:
A表(biao)示(shi):0℃~+150℃,B表(biao)示(shi):-20℃~+150℃,C表(biao)示(shi):-40℃~+150℃,
D表(biao)示(shi):-60℃~+150℃,E表(biao)示(shi):-70℃~+150℃
溫(wen)度(du)精(jing)度(du):±0.01℃
溫(wen)度(du)波動(dong)度(du):±0.5℃
溫(wen)度(du)均(jun)勻度(du):±2.0℃
濕(shi)度(du)範(fan)圍:20%RH~98%RH
濕(shi)度(du)精(jing)度(du):±0.1%R.H
濕(shi)度(du)波動(dong)度(du):±2.0%R.H.
濕(shi)度(du)均(jun)勻度(du):±3%R.H.
升(sheng)溫(wen)速率(lv):平均(jun)3℃/min(非(fei)線性(xing)、空載(zai)時;從常(chang)溫(wen)+25℃升(sheng)至+85℃約(yue)20min);可按要求定(ding)制非(fei)標規(gui)格(ge)
降(jiang)溫(wen)速度(du):平(ping)均1℃/min(非(fei)線性(xing)、空載(zai)時;從常(chang)溫(wen)+25℃降(jiang)至-40℃約(yue)65min);可按要求定(ding)制非(fei)標規(gui)格(ge)

二(er)、半導體芯片高低溫測(ce)試(shi)機控(kong)制(zhi)系統:
LCD 7寸(cun)全(quan)新(xin)真(zhen)彩液晶觸摸顯示(shi)器(qi)
控(kong)制(zhi)器(qi)規格(ge):
1、參數(shu)的設定(ding)采用(yong)人機對話(hua)方式,僅需觸摸方式輸入(ru)溫(wen)度(du),濕(shi)度(du);就(jiu)可實現試(shi)驗箱自(zi)動(dong)運(yun)行(xing)功能。可存貯(zhu)120個程(cheng)序組(zu),每(mei)個程(cheng)式組(zu)可設定(ding)100段(duan)程(cheng)式。每(mei)段(duan)程(cheng)式可設定(ding)運(yun)行(xing)時間(jian):99小時59分鐘,可設定(ding)999次(ci)循環(huan)(可無限(xian)反(fan)復)
2、屏幕(mu)顯示(shi):7英(ying)寸(cun)LCD全(quan)新(xin)真(zhen)彩液晶觸摸顯示(shi)器(qi)
3、設定(ding)精(jing)度(du):溫(wen)度(du):0. 1℃ 濕(shi)度(du):1%RH
4、顯示(shi)精(jing)度(du):溫(wen)度(du):0. 01℃ 濕(shi)度(du):0.1%RH
5、運(yun)行(xing)方式:定值運(yun)行(xing),程(cheng)式運(yun)行(xing)
6、通(tong)訊(xun)功能:配(pei)備標(biao)準的RS232C/RS485通(tong)訊(xun)接口,傳(chuan)輸距離1.2Km,米(mi)通(tong)訊(xun)速度(du)可達9600bps,可實現與計(ji)算機連接(jie)遠(yuan)程(cheng)監控(kong),操(cao)作(zuo)方便(bian)。

三(san)、制(zhi)冷系統:
1.壓縮(suo)機:全(quan)封(feng)閉(bi)*法(fa)國泰(tai)康(kang)壓縮(suo)機
2.制(zhi)冷方式:單(dan)(雙(shuang))機制冷
3.冷凝(ning)方式:強制風冷冷卻(que)
4.電(dian)磁閥、油(you)分離器(qi)、幹燥(zao)過濾(lv)器(qi)、修理閥、冷媒(mei)流量視(shi)窗(chuang)均(jun)采(cai)用(yong)進口原裝(zhuang)件

四、保養:
1. 試(shi)驗室(shi)測(ce)試(shi)布濕(shi)更(geng)換燈泡
當(dang)測(ce)試(shi)是(shi)不(bu)幹凈(jing)的布或(huo)硬(ying)表(biao)面,或(huo)完(wan)成(cheng)溫(wen)度(du)控(kong)制(zhi),繼(ji)續做(zuo)度(du)的溫(wen)度(du)和(he)濕(shi)度(du)對(dui)球的控(kong)制(zhi),必(bi)須(xu)在(zai)考(kao)試(shi)前(qian)更(geng)換布。布約3個月(yue)的試(shi)驗,以(yi)取(qu)代(dai)1,更(geng)換溫度(du)時,身(shen)體(ti)幹(gan)凈的布即可,溫度(du)傳(chuan)感器(qi),更(geng)換新的測(ce)試(shi)應用(yong)首先要幹凈(jing)的布。
2. 濕(shi)球(qiu)溫度(du)和(he)濕(shi)度(du)的檢驗室(shi)和(he)水(shui)調整(zheng)水(shui)平(ping)
水(shui)管(guan)水(shui)的水(shui)平(ping)不(bu)太高,水溢(yi)水(shui)管(guan)或(huo)吸(xi)水(shui)率(lv)低,以(yi)便(bian)濕(shi)布球試(shi)驗是(shi)不(bu)正常(chang),影響了濕(shi)球(qiu)的準(zhun)確(que)性(xing),保持約(yue)6可以(yi)充(chong)分水位(wei)。水(shui)管(guan)水(shui)位(wei)調節,可調節(jie)高,低水箱。兩(liang)三次(ci),幾乎(hu)每(mei)次(ci)測(ce)試(shi)需要做(zuo)的檢查(zha)和補充(chong)水分。
3. 試(shi)驗室(shi)超(chao)溫(wen)保護裝置的檢查(zha)
試(shi)驗室(shi)操(cao)作(zuo),超溫(wen)保護設定(ding)zui高值(zhi)加20℃~30℃。內(nei)部(bu)測(ce)試(shi)溫度(du)上升(sheng)到過溫(wen)保護設定(ding)值時,電源(yuan)的加熱(re)器(qi)停(ting)止,“過熱(re)”過熱(re)jing告燈亮,但(dan)風(feng)扇(shan)仍(reng)在(zai)運(yun)行(xing),如(ru)果(guo)長時間(jian)運(yun)行(xing)和(he)無人值守(shou),務(wu)必術前(qian)檢查(zha)真(zhen)的過溫(wen)保護,無論是(shi)正確(que)的濕(shi)球(qiu)溫度(du)保護裝置應設置120℃。
4. 清(qing)除(chu)灰塵試(shi)驗箱冷凝(ning)器(qi)
冷凝(ning)器(qi)應每(mei)月(yue)定期保養,使用(yong)真(zhen)空冷卻(que)附著(zhe)在(zai)灰塵吸(xi)入(ru)清(qing)潔(jie)冷凝(ning)器(qi)網(wang)或(huo)使用(yong)高壓空氣(qi)噴射的塵(chen)埃(ai)。
5. 試(shi)驗室(shi)的清(qing)洗(xi)和維(wei)修(xiu)的外部(bu)櫃(gui)
1)在(zai)行(xing)動(dong)中的雜(za)質試(shi)驗室(shi)應當由搬遷(qian)之前(qian)。
2)配(pei)電(dian)室(shi)每(mei)年清(qing)洗(xi)壹次(ci)以(yi)上,清(qing)洗(xi),真(zhen)空吸(xi)塵(chen)器(qi),可用(yong)於(yu)室(shi)內(nei)灰塵,可吸(xi)入(ru)。
3)外部(bu)燃(ran)料(liao)箱必須(xu)清理壹次(ci),壹(yi)年或(huo)更(geng)長時間(jian)才能清洗(xi)可以(yi)用(yong)肥皂和水(shui)清洗。
6. 加濕(shi)器(qi)的檢查(zha)和維(wei)修試(shi)驗室(shi)
加濕(shi)器(qi)內(nei)的水(shui)應改為每(mei)月(yue)壹次(ci),以(yi)確(que)保潔凈(jing)水,加濕(shi)器(qi)水盤(pan)應每(mei)月(yue)清洗壹次(ci),以(yi)確(que)保水流(liu)順(shun)暢(chang)。
- 高低溫濕(shi)熱(re)交變(bian)試(shi)驗機
- 防爆(bao)型(xing)高低溫濕(shi)熱(re)試(shi)驗箱
- 高低溫濕(shi)熱(re)環(huan)境(jing)試(shi)驗箱
- 濕(shi)熱(re)高低溫循環(huan)箱 高低溫試(shi)驗箱
- 高低溫濕(shi)度(du)環(huan)境(jing)試(shi)驗箱
- 電池(chi)高(gao)低溫箱 高低溫試(shi)驗箱
- 光纜(lan)高(gao)低溫環(huan)境(jing)試(shi)驗箱
- 高低溫恒(heng)定(ding)試(shi)驗箱
- 高低溫老(lao)化(hua)試(shi)驗環(huan)境(jing)箱
- 高低溫溫(wen)濕(shi)度(du)試(shi)驗箱



