半導體三槽(cao)式(shi)冷(leng)熱(re)沖擊(ji)試(shi)驗箱(xiang)
更新(xin)時(shi)間(jian):2022-09-29
半導(dao)體三槽(cao)式(shi)冷(leng)熱(re)沖擊(ji)試(shi)驗箱(xiang),用來(lai)測(ce)試復合(he)材料及材(cai)料結構(gou),在(zai)瞬(shun)間(jian)下(xia)經及高(gao)溫(wen)及(ji)低(di)溫(wen)的連續環(huan)境(jing)下(xia)所能忍(ren)受的程度(du),即(ji)以在(zai)短(duan)時間(jian)內試(shi)驗其因(yin)熱(re)脹(zhang)冷(leng)縮所引起的化學變化(hua)或(huo)物理(li)傷(shang)害。
壹、半導體三槽(cao)式(shi)冷(leng)熱(re)沖擊(ji)試(shi)驗箱(xiang)技術(shu)參(can)數(shu):
規格型號(hao):HE-LR-50/80/100/150/252/480
容(rong)量:50升(sheng)、80升、100升(sheng)、150升、252升(sheng)、480升(sheng)
內(nei)箱(xiang)尺(chi)寸(寬*高(gao)*深):400X350X360、500X400X400、500X500X400、600X500X500、700X600X600、800X800X750(MM)
外(wai)形尺(chi)寸(cun)(寬(kuan)*高(gao)*深):1560X1950X1400、1700X2070X1500、1700X2170X1500、1800X2270X1600、1900X2370X1700、2000X2570X1850(MM)
試(shi)驗(yan)溫(wen)度(du)範(fan)圍:S表(biao)示(shi):-40℃~+150℃
W表(biao)示(shi):-55℃~+150℃
L表(biao)示(shi):-65℃~+150℃
低(di)溫(wen)槽(cao)溫(wen)度(du)範(fan)圍:-55℃~-10℃、-70℃~-10℃、-80℃~-10℃
高(gao)溫(wen)槽(cao)溫(wen)度(du)範(fan)圍:+60℃~+200℃,升溫(wen)速率平均5℃/MIN
溫(wen)度(du)波(bo)動度:±2.0℃
溫(wen)度(du)轉換時(shi)間(jian):10S
溫(wen)度(du)穩(wen)定時(shi)間(jian):5MIN,常溫(wen)~zui低(di)溫(wen)度(du)5MIN,常(chang)溫(wen)~zui高(gao)溫(wen)度(du)5MIN
內(nei)箱(xiang)材(cai)質:SUS304鏡面不(bu)銹鋼
外(wai)箱材質:SUS201紗面不(bu)銹鋼或(huo)電(dian)解鋼板噴塑(su)處理(li)
冷(leng)卻(que)方式(shi):水(shui)冷(leng)或(huo)風(feng)冷(leng)(可選擇)
控制(zhi)器系統(tong):彩色觸(chu)摸(mo)式(shi)控制(zhi)器
箱(xiang)體保(bao)溫(wen)材(cai)料:硬(ying)質聚氨(an)酯(zhi)泡沫+玻(bo)璃纖(xian)維(wei)

二(er)、半(ban)導(dao)體三槽(cao)式(shi)冷(leng)熱(re)沖擊(ji)試(shi)驗箱(xiang)控制(zhi)系統(tong):
1.采(cai)用進口(kou)高(gao)精(jing)度溫(wen)濕度控制(zhi)儀(yi)表(biao),觸(chu)摸(mo)屏(ping)控制(zhi)。
2.溫(wen)度(du)控制(zhi)采(cai)用PID+SSR系統(tong)同(tong)頻(pin)道(dao)協(xie)調控制(zhi)。
3.具(ju)有(you)自(zi)動演(yan)算的功能(neng),可將(jiang)溫(wen)度(du)變(bian)化條件立即(ji)修(xiu)正,使(shi)溫(wen)濕度控制(zhi)更(geng)為jing確穩(wen)定。
4.控制(zhi)器操(cao)作(zuo)界面實時運轉曲線(xian)圖(tu)可由屏(ping)幕顯示(shi)。
三、制(zhi)冷(leng)系統(tong):
(1)制(zhi)冷(leng)機采用全封(feng)閉(bi)法國泰(tai)康(或(huo)半(ban)封閉(bi)德(de)國(guo)谷輪(lun))壓(ya)縮機(ji)。
(2)冷(leng)凍系統(tong)采(cai)用單元或(huo)二(er)元式(shi)低(di)溫(wen)回(hui)路(lu)系統(tong)設(she)計,采(cai)用風(feng)冷(leng)單機(ji)壓(ya)縮/風(feng)冷(leng)復疊壓(ya)縮制(zhi)冷(leng)方式(shi)。
- 水冷(leng)式(shi)高(gao)低溫(wen)沖擊(ji)試(shi)驗箱(xiang) 冷(leng)熱(re)沖擊(ji)試(shi)驗箱(xiang)
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