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LED三箱(xiang)式(shi)冷(leng)熱沖(chong)擊箱(xiang)
LED三箱(xiang)式(shi)冷(leng)熱沖(chong)擊箱(xiang),在(zai)瞬間下(xia)經及高溫及(ji)極(ji)低(di)溫在(zai)連(lian)續(xu)環境下(xia)所能(neng)忍受(shou)的(de)程(cheng)度,采用(yong)7寸(cun)真彩觸(chu)摸屏(ping),畫(hua)面顯示(shi)直(zhi)觀易操(cao)作,可(ke)做(zuo)定值(zhi)和程式(shi)控(kong)制。
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水(shui)冷(leng)式(shi)高低溫(wen)沖擊試驗箱 冷(leng)熱沖(chong)擊試(shi)驗箱
水(shui)冷(leng)式(shi)高低溫(wen)沖擊試驗箱,可(ke)以模(mo)擬(ni)多種(zhong)溫度(du)變(bian)化環境,如(ru)冷(leng)熱沖(chong)擊、溫(wen)度濕度沖(chong)擊(ji)、溫度(du)濕(shi)度(du)循環等(deng),可(ke)以用(yong)於測(ce)試樣(yang)品(pin)在(zai)溫度(du)變(bian)化環境下(xia)的(de)性(xing)能(neng)變(bian)化。
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新(xin)能(neng)源高低溫(wen)沖擊試驗箱 冷(leng)熱沖(chong)擊試(shi)驗箱
新(xin)能(neng)源高低溫(wen)沖擊試驗箱,用(yong)於測(ce)試材(cai)料結(jie)構(gou)或復(fu)合(he)材(cai)料,在(zai)瞬間下(xia)經高溫及(ji)低溫的(de)連(lian)續(xu)環境下(xia)忍受(shou)的(de)程(cheng)度,得(de)以在(zai)短(duan)時(shi)間內檢(jian)測(ce)試樣(yang)因熱(re)脹冷(leng)縮(suo)所引起的(de)化學變(bian)化或物(wu)理傷(shang)害。
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高低溫(wen)沖擊循環箱(xiang) 冷(leng)熱沖(chong)擊試(shi)驗箱
高低溫(wen)沖擊循環箱(xiang),用(yong)於測(ce)試材(cai)料結(jie)構(gou)或復(fu)合(he)材(cai)料,在(zai)瞬間下(xia)經高溫及(ji)低溫的(de)連(lian)續(xu)環境下(xia)忍受(shou)的(de)程(cheng)度。
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高低溫(wen)溫度沖擊(ji)試驗機 冷(leng)熱沖(chong)擊試(shi)驗箱
高低溫(wen)溫度沖擊(ji)試驗機,用(yong)於測(ce)試材(cai)料結(jie)構(gou)或復(fu)合(he)材(cai)料,在(zai)瞬間下(xia)經高溫及(ji)低溫的(de)連(lian)續(xu)環境下(xia)忍受(shou)的(de)程(cheng)度。
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提(ti)籃(lan)式(shi)沖(chong)擊(ji)試(shi)驗箱 冷(leng)熱沖(chong)擊試(shi)驗箱
提(ti)籃(lan)式(shi)沖(chong)擊(ji)試(shi)驗箱,可(ke)以模(mo)擬(ni)多種(zhong)溫度(du)變(bian)化環境,如(ru)冷(leng)熱沖(chong)擊、溫(wen)度濕度沖(chong)擊(ji)、溫度(du)濕(shi)度(du)循環等(deng),可(ke)以用(yong)於測(ce)試樣(yang)品(pin)在(zai)溫度(du)變(bian)化環境下(xia)的(de)性(xing)能(neng)變(bian)化。
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發動(dong)機冷(leng)熱沖(chong)擊試(shi)驗箱
發動(dong)機冷(leng)熱沖(chong)擊試(shi)驗箱,可(ke)以模(mo)擬(ni)復(fu)雜的(de)溫(wen)度變(bian)化環境,用(yong)於測(ce)試樣(yang)品(pin)在(zai)溫度(du)變(bian)化環境下(xia)的(de)性(xing)能(neng)變(bian)化。
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三槽儲溫(wen)式(shi)冷(leng)熱沖(chong)擊試(shi)驗箱
三槽儲溫(wen)式(shi)冷(leng)熱沖(chong)擊試(shi)驗箱,用(yong)來測(ce)試材(cai)料結(jie)構(gou)或復(fu)合(he)材(cai)料,在(zai)瞬間下(xia)經高溫及(ji)低溫的(de)連(lian)續(xu)環境下(xia)所能(neng)忍受(shou)的(de)程(cheng)度,藉(ji)以在(zai)短(duan)時(shi)間內 試(shi)驗其因熱(re)脹冷(leng)縮(suo)所引起的(de)化學變(bian)化或物(wu)理傷(shang)害。
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三槽式(shi)高低溫(wen)循環沖(chong)擊(ji)箱 冷(leng)熱沖(chong)擊試(shi)驗箱
三槽式(shi)高低溫(wen)循環沖(chong)擊(ji)箱,適用(yong)於考核產品(pin)(整(zheng)機(ji))、元(yuan)器件、零(ling)部(bu)件等經受溫(wen)度急劇(ju)變(bian)化的(de)能(neng)力。
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箱式(shi)冷(leng)熱沖(chong)擊試(shi)驗設(she)備
箱式(shi)冷(leng)熱沖(chong)擊試(shi)驗設(she)備,用(yong)於測(ce)試材(cai)料結(jie)構(gou)或復(fu)合(he)材(cai)料,在(zai)瞬間下(xia)經高溫及(ji)低溫的(de)連(lian)續(xu)環境下(xia)所能(neng)忍受(shou)的(de)程(cheng)度,得(de)以在(zai)短(duan)時(shi)間內檢(jian)測(ce)試樣(yang)因熱(re)脹冷(leng)縮(suo)所引起的(de)化學變(bian)化或物(wu)理傷(shang)害。
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可(ke)程(cheng)式(shi)高低溫(wen)沖擊實(shi)驗箱 冷(leng)熱沖(chong)擊試(shi)驗箱
可(ke)程(cheng)式(shi)高低溫(wen)沖擊實(shi)驗箱,用(yong)於測(ce)試材(cai)料結(jie)構(gou)或復(fu)合(he)材(cai)料,在(zai)瞬間下(xia)經高溫及(ji)低溫的(de)連(lian)續(xu)環境下(xia)所能(neng)忍受(shou)的(de)程(cheng)度,得(de)以在(zai)短(duan)時(shi)間內檢(jian)測(ce)試樣(yang)因熱(re)脹冷(leng)縮(suo)所引起的(de)化學變(bian)化或物(wu)理傷(shang)害。
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手機(ji)屏(ping)高低溫(wen)沖擊箱 冷(leng)熱沖(chong)擊試(shi)驗箱
手機(ji)屏(ping)高低溫(wen)沖擊箱,用(yong)來測(ce)試材(cai)料結(jie)構(gou)或復(fu)合(he)材(cai)料,在(zai)瞬間下(xia)經高溫及(ji)低溫的(de)連(lian)續(xu)環境下(xia)所能(neng)忍受(shou)的(de)程(cheng)度。
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