LED三箱(xiang)式(shi)冷(leng)熱沖(chong)擊箱(xiang)，在(zai)瞬間下(xia)經及高溫及(ji)極(ji)低(di)溫在(zai)連(lian)續(xu)環境下(xia)所能(neng)忍受(shou)的(de)程(cheng)度，采用(yong)7寸(cun)真彩觸(chu)摸屏(ping),畫(hua)面顯示(shi)直(zhi)觀易操(cao)作，可(ke)做(zuo)定值(zhi)和程式(shi)控(kong)制。

水(shui)冷(leng)式(shi)高低溫(wen)沖擊試驗箱，可(ke)以模(mo)擬(ni)多種(zhong)溫度(du)變(bian)化環境，如(ru)冷(leng)熱沖(chong)擊、溫(wen)度濕度沖(chong)擊(ji)、溫度(du)濕(shi)度(du)循環等(deng)，可(ke)以用(yong)於測(ce)試樣(yang)品(pin)在(zai)溫度(du)變(bian)化環境下(xia)的(de)性(xing)能(neng)變(bian)化。

新(xin)能(neng)源高低溫(wen)沖擊試驗箱，用(yong)於測(ce)試材(cai)料結(jie)構(gou)或復(fu)合(he)材(cai)料，在(zai)瞬間下(xia)經高溫及(ji)低溫的(de)連(lian)續(xu)環境下(xia)忍受(shou)的(de)程(cheng)度，得(de)以在(zai)短(duan)時(shi)間內檢(jian)測(ce)試樣(yang)因熱(re)脹冷(leng)縮(suo)所引起的(de)化學變(bian)化或物(wu)理傷(shang)害。

高低溫(wen)沖擊循環箱(xiang)，用(yong)於測(ce)試材(cai)料結(jie)構(gou)或復(fu)合(he)材(cai)料，在(zai)瞬間下(xia)經高溫及(ji)低溫的(de)連(lian)續(xu)環境下(xia)忍受(shou)的(de)程(cheng)度。

高低溫(wen)溫度沖擊(ji)試驗機，用(yong)於測(ce)試材(cai)料結(jie)構(gou)或復(fu)合(he)材(cai)料，在(zai)瞬間下(xia)經高溫及(ji)低溫的(de)連(lian)續(xu)環境下(xia)忍受(shou)的(de)程(cheng)度。

提(ti)籃(lan)式(shi)沖(chong)擊(ji)試(shi)驗箱，可(ke)以模(mo)擬(ni)多種(zhong)溫度(du)變(bian)化環境，如(ru)冷(leng)熱沖(chong)擊、溫(wen)度濕度沖(chong)擊(ji)、溫度(du)濕(shi)度(du)循環等(deng)，可(ke)以用(yong)於測(ce)試樣(yang)品(pin)在(zai)溫度(du)變(bian)化環境下(xia)的(de)性(xing)能(neng)變(bian)化。

發動(dong)機冷(leng)熱沖(chong)擊試(shi)驗箱，可(ke)以模(mo)擬(ni)復(fu)雜的(de)溫(wen)度變(bian)化環境，用(yong)於測(ce)試樣(yang)品(pin)在(zai)溫度(du)變(bian)化環境下(xia)的(de)性(xing)能(neng)變(bian)化。

三槽儲溫(wen)式(shi)冷(leng)熱沖(chong)擊試(shi)驗箱，用(yong)來測(ce)試材(cai)料結(jie)構(gou)或復(fu)合(he)材(cai)料，在(zai)瞬間下(xia)經高溫及(ji)低溫的(de)連(lian)續(xu)環境下(xia)所能(neng)忍受(shou)的(de)程(cheng)度，藉(ji)以在(zai)短(duan)時(shi)間內 試(shi)驗其因熱(re)脹冷(leng)縮(suo)所引起的(de)化學變(bian)化或物(wu)理傷(shang)害。

三槽式(shi)高低溫(wen)循環沖(chong)擊(ji)箱，適用(yong)於考核產品(pin)(整(zheng)機(ji))、元(yuan)器件、零(ling)部(bu)件等經受溫(wen)度急劇(ju)變(bian)化的(de)能(neng)力。

箱式(shi)冷(leng)熱沖(chong)擊試(shi)驗設(she)備，用(yong)於測(ce)試材(cai)料結(jie)構(gou)或復(fu)合(he)材(cai)料，在(zai)瞬間下(xia)經高溫及(ji)低溫的(de)連(lian)續(xu)環境下(xia)所能(neng)忍受(shou)的(de)程(cheng)度，得(de)以在(zai)短(duan)時(shi)間內檢(jian)測(ce)試樣(yang)因熱(re)脹冷(leng)縮(suo)所引起的(de)化學變(bian)化或物(wu)理傷(shang)害。

可(ke)程(cheng)式(shi)高低溫(wen)沖擊實(shi)驗箱，用(yong)於測(ce)試材(cai)料結(jie)構(gou)或復(fu)合(he)材(cai)料，在(zai)瞬間下(xia)經高溫及(ji)低溫的(de)連(lian)續(xu)環境下(xia)所能(neng)忍受(shou)的(de)程(cheng)度，得(de)以在(zai)短(duan)時(shi)間內檢(jian)測(ce)試樣(yang)因熱(re)脹冷(leng)縮(suo)所引起的(de)化學變(bian)化或物(wu)理傷(shang)害。

手機(ji)屏(ping)高低溫(wen)沖擊箱，用(yong)來測(ce)試材(cai)料結(jie)構(gou)或復(fu)合(he)材(cai)料,在(zai)瞬間下(xia)經高溫及(ji)低溫的(de)連(lian)續(xu)環境下(xia)所能(neng)忍受(shou)的(de)程(cheng)度。