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        1. 產(chan)品(pin)目錄
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          高低(di)溫(wen)沖擊(ji)熱(re)流儀(yi)工作模(mo)式(shi)

          發(fa)布(bu)日期:2024-11-06      點擊(ji):771
            單(dan)個(ge)IC或其(qi)它(ta)元(yuan)件(jian),將(jiang)其隔離出(chu)來(lai)單(dan)獨(du)進(jin)行(xing)高低(di)溫(wen)沖擊(ji),而不(bu)影(ying)響(xiang)周(zhou)邊其(qi)它器(qi)件(jian),與傳統
           
            適(shi)用(yong)範(fan)圍(wei)
           
            高低(di)溫(wen)沖擊(ji)熱(re)流儀(yi)適(shi)用(yong)於(yu)各類半導(dao)體芯片、閃存(cun)Flash/EMMC、PCB 電(dian)路板(ban)IC、光(guang)通(tong)訊(xun)(如收發(fa)器(qi) transceiver 高低(di)溫(wen)測試、SFP 光(guang)模塊(kuai)高低(di)溫(wen)測試等(deng))、電子(zi)行(xing)業(ye)等(deng)進(jin)行(xing)IC 特(te)性分(fen)析、高低(di)溫(wen)循環(huan)測試、溫(wen)度沖(chong)擊(ji)測試、失(shi)效分析等可靠(kao)性試(shi)驗。
           
            工作原(yuan)理(li)
           
            1、試驗機輸(shu)出(chu)氣流罩(zhao)將(jiang)被測試品(pin)罩住(zhu),形成壹(yi)個(ge)較(jiao)密(mi)閉(bi)空(kong)間的(de)測試腔(qiang),試(shi)驗機輸(shu)出(chu)的(de)高溫(wen)或低(di)溫(wen)氣流,使被測試品(pin)表(biao)面(mian)溫(wen)度發(fa)生(sheng)劇烈變化,從而完(wan)成相(xiang)應(ying)的高低(di)溫(wen)沖擊(ji)試(shi)驗;
           
            2、可針對(dui)眾多(duo)元(yuan)器(qi)件(jian)中的(de)某壹冷熱(re)沖擊(ji)試(shi)驗箱(xiang)相(xiang)比(bi),溫(wen)變變化沖擊(ji)速(su)率(lv)更(geng)快(kuai)。
           
            工作模(mo)式(shi)
           
            A)2路主空(kong)氣管(guan)輸(shu)出(chu),由(you)分(fen)布(bu)頭分(fen)為(wei)8路供(gong)氣,帶(dai)2套1拖(tuo)8 系(xi)統
           
            B) 2種(zhong)檢(jian)測模式(shi) Air Mode 和 DUT Mode
           
            測試和循(xun)環(huan)於高溫(wen)/常(chang)溫(wen)/低溫(wen)(或者不(bu)要(yao)常(chang)溫(wen))
           
            主要(yao)技術(shu)參數(shu)
           
            設備型號: HE-ATS750
           
            溫(wen)度控(kong)制;範(fan)圍(wei): -70℃~+250℃
           
            沖(chong)擊(ji)溫(wen)度範(fan)圍(wei): -60℃~+200℃
           
            溫(wen)度轉換(huan)時(shi)間: ≤10秒(miao)
           
            溫(wen)度偏(pian)差: 測試品(pin)恒定(ding)在-40℃時(shi),溫(wen)度偏(pian)差為±1℃
           
            沖擊(ji)氣流量(liang): 1.9~8.5L/s(分為8路,每(mei)路0.23~1.06 L/s)連續(xu)氣流
           
            溫(wen)變速率(lv)降(jiang): RT+10℃降至-40℃≤60s
           
            試(shi)品(pin)表(biao)面(mian)溫(wen)度: RT+10℃降(jiang)至-40℃約1分鐘試品(pin)表(biao)面(mian)溫(wen)度達(da)到(dao),氣體溫(wen)度與(yu)樣品(pin)溫(wen)度可選(xuan)擇測控
           
            樣(yang)品(pin)盒尺(chi)寸: 直徑140mm×高50mm
           
            制(zhi)冷方式(shi): 采(cai)用(yong)風冷式(shi)HFC環(huan)保制(zhi)冷(leng)劑復(fu)疊系(xi)統,溫(wen)度可達(da)-70℃
           
            控(kong)制系(xi)統: 采(cai)用(yong)進(jin)口(kou)智(zhi)能PLC觸摸(mo)屏控制(zhi),7寸彩色(se)屏
           
            試品(pin): 帶(dai)2套1拖(tuo)8 系(xi)統,金(jin)屬(shu)封(feng)裝(zhuang)PCB板(ban)模(mo)塊(kuai)8片
           
            外(wai)形尺(chi)寸: 寬790×高1600×深(shen)1080(mm)以實(shi)物(wu)為(wei)準
           
            使用(yong)電(dian)源(yuan): AC 三(san)相(xiang) 五線 380V 50/60HZ
           
            噪音(yin): ≤65dB(A聲級)
           
            條件: 風冷式(shi)環(huan)境溫(wen)度在+23℃時(shi)
           
            幹燥(zao)氣源(yuan): 用(yong)戶自(zi)備
           
            註(zhu):前端空(kong)氣經(jing)幹燥(zao)過(guo)濾(lv)器(qi)處(chu)理(li),產(chan)品(pin)測試區(qu)及附近(jin)無(wu)明(ming)顯(xian)結露現象(xiang)。設(she)備可以連(lian)續(xu)運轉不(bu)需(xu)進(jin)行(xing)除霜(shuang)
           
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