高(gao)低溫(wen)環境模(mo)擬(ni)測試設備，由制(zhi)冷(leng)系(xi)統(tong)，加熱(re)系統(tong)，控(kong)制(zhi)系(xi)統(tong)，溫(wen)度(du)系(xi)統(tong)空(kong)氣(qi)循環系統(tong)，和(he)傳感(gan)器系(xi)統(tong)等(deng)組(zu)成(cheng)。

小(xiao)型高(gao)低溫(wen)測試箱(xiang)，用於(yu)測試和(he)確定電工、電子(zi)及其他(ta)產(chan)品(pin)及材料進(jin)行(xing)高(gao)溫(wen)、低溫(wen)、或恒定試驗的溫(wen)度(du)環境變化(hua)後(hou)的(de)參數(shu)及性能(neng)。

半導體芯片(pian)高(gao)低溫(wen)測試機(ji)，是汽車、家(jia)電(dian)、科研(yan)等(deng)領域*的測試設備,用(yong)於(yu)測試和(he)確定電工、電子(zi)及其他(ta)產(chan)品(pin)及材料進(jin)行(xing)高(gao)溫(wen)、低溫(wen)、交(jiao)變濕(shi)熱(re)度(du)或恒定試驗。

智能(neng)高(gao)低溫(wen)交(jiao)變試驗箱(xiang)，可分(fen)為交(jiao)變試驗、恒溫(wen)試(shi)驗，兩種試(shi)驗方(fang)法都是在(zai)高(gao)低溫(wen)試(shi)驗箱(xiang)的基(ji)礎上進(jin)行(xing)升級拓展，交(jiao)變試驗箱(xiang)是指(zhi)可以(yi)壹(yi)次(ci)性(xing)將需要(yao)做(zuo)的(de)高(gao)溫(wen)、低溫(wen)以(yi)及所需做的溫(wen)度(du)的(de)時(shi)間(jian)設定在(zai)儀表(biao)參數(shu)內，試驗(yan)箱(xiang)會按(an)照(zhao)設定走(zou)程(cheng)序(xu)，高(gao)低溫(wen)試(shi)驗箱(xiang)就是(shi)在(zai)做壹(yi)個固(gu)定的溫(wen)度(du)，使(shi)試(shi)驗(yan)效(xiao)果(guo)更(geng)接(jie)近(jin)自然(ran)氣(qi)候，模(mo)擬(ni)出更(geng)惡(e)劣的(de)自然(ran)氣(qi)候，從而使(shi)被(bei)測樣品(pin)的(de)可(ke)靠性(xing)更(geng)高(gao)。

高(gao)低溫(wen)環境測試箱(xiang)，適用(yong)於(yu)工業(ye)產(chan)品(pin)高(gao)溫(wen)、低溫(wen)的(de)可靠性(xing)試(shi)驗。對(dui)電子(zi)電工、汽車摩托(tuo)、船(chuan)舶(bo)兵(bing)器(qi)、高(gao)等院校(xiao)、科研(yan)單(dan)位等相關(guan)產(chan)品(pin)的(de)零(ling)部(bu)件(jian)及材料在(zai)高(gao)溫(wen)、低溫(wen)（交(jiao)變）循環變化(hua)的情況(kuang)下(xia)，檢(jian)驗其各項(xiang)性(xing)能(neng)指標(biao)。

高(gao)低溫(wen)恒(heng)溫(wen)試(shi)驗箱(xiang)，主(zhu)要(yao)針(zhen)對(dui)於(yu)電(dian)工，電子(zi)產(chan)品(pin)，以(yi)及其元(yuan)器件(jian)及其它(ta)材料在(zai)高(gao)溫(wen)，低溫(wen)綜(zong)合(he)環境下(xia)運(yun)輸(shu)，使用(yong)時的適應性試(shi)驗(yan)。

高(gao)低溫(wen)濕(shi)熱(re)試驗(yan)設備，適(shi)用於(yu)各(ge)類電(dian)子(zi)、電(dian)工、電器(qi)、塑(su)料等(deng)原(yuan)材料和(he)器(qi)件(jian)研發(fa)時(shi)進(jin)行(xing)的耐(nai)寒、耐(nai)熱(re)、耐(nai)濕(shi)、耐(nai)幹(gan)性的(de)考(kao)驗(yan)。

高(gao)低溫(wen)加速老(lao)化(hua)箱(xiang)，主(zhu)要(yao)用(yong)於(yu)對(dui)產(chan)品(pin)按(an)照(zhao)國家(jia)標(biao)準要(yao)求或用戶(hu)自定要(yao)求，在(zai)低溫(wen)、高(gao)溫(wen)、溫(wen)濕(shi)度(du)及其循環變化(hua)條件(jian)下(xia)，對(dui)產(chan)品(pin)的(de)物(wu)理(li)以及其它(ta)相關(guan)特(te)性進(jin)行(xing)環境模(mo)擬(ni)測試，測試後(hou)，通(tong)過(guo)檢測，來判斷產(chan)品(pin)的(de)性(xing)能(neng)，是否(fou)仍然(ran)能(neng)夠符(fu)合(he)預(yu)定要(yao)求，以便供(gong)產(chan)品(pin)設計、改進(jin)、鑒定及出廠(chang)檢驗(yan)用。

電池(chi)高(gao)低溫(wen)試(shi)驗箱(xiang)，主(zhu)要(yao)是(shi)針(zhen)對(dui)於(yu)電(dian)工、電子(zi)產(chan)品(pin)，以(yi)及其原(yuan)器件(jian)，及其它(ta)材料在(zai)高(gao)溫(wen)、低溫(wen)、溫(wen)濕(shi)度(du)及其循環變化(hua)的環境下(xia)貯(zhu)存、運(yun)輸(shu)、使用(yong)時的適應性試(shi)驗(yan)。

可編(bian)程高(gao)低溫(wen)濕(shi)熱(re)試驗(yan)箱(xiang)，就是(shi)在(zai)溫(wen)度(du)的(de)基(ji)礎上加濕(shi)熱(re)系統(tong)，使(shi)做(zuo)溫(wen)度(du)的(de)同(tong)時也(ye)可(ke)以(yi)做濕(shi)度(du)測試，使(shi)試驗(yan)效(xiao)果(guo)更(geng)接(jie)近(jin)自然(ran)氣(qi)候，模(mo)擬(ni)出更(geng)惡(e)劣的(de)自然(ran)氣(qi)候，從而使(shi)被(bei)測樣品(pin)的(de)可(ke)靠性(xing)更(geng)高(gao)。

高(gao)低溫(wen)濕(shi)熱(re)測試儀，也(ye)稱(cheng)為濕(shi)熱(re)試驗(yan)箱(xiang)，濕(shi)熱(re)交(jiao)變試驗箱(xiang)，高(gao)低溫(wen)環境試(shi)驗(yan)箱(xiang)，可程(cheng)式高(gao)低溫(wen)濕(shi)熱(re)試驗(yan)箱(xiang)，高(gao)低溫(wen)濕(shi)熱(re)交(jiao)變試驗箱(xiang)。

高(gao)低溫(wen)濕(shi)熱(re)環境交(jiao)變試驗機，也(ye)稱(cheng)為濕(shi)熱(re)交(jiao)變試驗機，高(gao)低溫(wen)濕(shi)熱(re)試驗(yan)機(ji)，高(gao)低溫(wen)環境試(shi)驗(yan)機，高(gao)低溫(wen)試(shi)驗機(ji)，濕(shi)熱(re)環境試(shi)驗(yan)箱(xiang)。