三(san)槽(cao)式(shi)高低(di)溫(wen)冷熱(re)沖(chong)擊(ji)試驗(yan)箱(xiang)，用於電子(zi)電器(qi)零(ling)組(zu)件(jian)、自動化(hua)零(ling)部(bu)件(jian)、通訊(xun)組(zu)件(jian)、汽車配(pei)件(jian)、金屬、塑(su)膠等(deng)行業(ye),國(guo)防工(gong)業(ye)、航天(tian)、兵(bing)工(gong)業(ye)、電子(zi)芯(xin)片(pian)IC、 半(ban)導(dao)體(ti)陶(tao)瓷及高分子(zi)材料(liao)之(zhi)物理性變(bian)化。

三(san)槽(cao)式(shi)溫(wen)度沖(chong)擊(ji)試驗(yan)箱(xiang)，用來測(ce)試(shi)材料(liao)結(jie)構或復(fu)合(he)材料(liao)，在(zai)瞬間(jian)下經高溫(wen)及低(di)溫(wen)的連續環境(jing)下所(suo)能忍受(shou)的程度，在(zai)短時(shi)間(jian)內試(shi)驗(yan)其因熱(re)脹冷縮(suo)所引(yin)起的化學變(bian)化或物理傷(shang)害(hai)。

二(er)槽(cao)式(shi)溫(wen)度沖(chong)擊(ji)箱(xiang)，用來測(ce)試(shi)材料(liao)結(jie)構或復(fu)合(he)材料(liao)，在(zai)瞬間(jian)下經高溫(wen)、低(di)溫(wen)的連續環境(jing)下所(suo)能忍受(shou)的程度的儀(yi)器設備。

LED溫(wen)度沖(chong)擊(ji)測(ce)試(shi)箱(xiang)，是(shi)以待測(ce)物品不(bu)動之(zhi)方式(shi)來測(ce)試(shi)因高低(di)溫(wen)急速(su)變(bian)化而對產品是(shi)否造成不(bu)良的影(ying)響。壹般(ban)用於電子(zi)部(bu)品、汽(qi)車零(ling)件(jian)及高科技(ji)產品等(deng)；需要(yao)環境(jing)條件(jian)測(ce)試(shi)及高信耐性需求(qiu)的檢(jian)驗(yan)。

高溫(wen)低(di)溫(wen)沖(chong)擊(ji)設備(bei)，由(you)高溫(wen)蓄(xu)熱(re)箱(xiang),低(di)溫(wen)蓄(xu)冷(leng)箱(xiang)和產(chan)品測(ce)試(shi)箱(xiang)三(san)箱(xiang)式(shi)全(quan)並而成,試(shi)驗(yan)時待試驗(yan)的產品擺放(fang)於(yu)測(ce)試(shi)箱(xiang)隔(ge)層(ceng)架(jia)內(nei),通過(guo)風(feng)門(men)切(qie)換(huan)達(da)到(dao)迅(xun)速完成高溫(wen)、低(di)溫(wen)交(jiao)變(bian)。

溫(wen)度循(xun)環沖(chong)擊(ji)試驗(yan)箱(xiang)，為(wei)溫(wen)度變(bian)化範(fan)圍(wei)的高溫(wen)和低(di)溫(wen)溫(wen)度值(zhi)、試(shi)驗(yan)樣品在(zai)高溫(wen)和低(di)溫(wen)下的保(bao)持(chi)時(shi)間(jian)、以及試驗(yan)的循環(huan)次數等因素(su)。

兩箱(xiang)式(shi)冷(leng)熱(re)沖(chong)擊(ji)試驗(yan)機，采(cai)用獨立槽(cao)區(qu)風(feng)路(lu)切(qie)換(huan)方式(shi)可(ke)將(jiang)低(di)溫(wen)槽(cao)、高溫(wen)槽(cao)的冷熱(re)量或者(zhe)室(shi)溫(wen)空氣導入(ru)測(ce)試(shi)槽(cao)，使測(ce)試(shi)槽(cao)的試驗(yan)樣品能夠(gou)在(zai)低(di)溫(wen)、高溫(wen)、室(shi)溫(wen)環境(jing)之(zhi)間(jian)快(kuai)速轉換(huan)，試(shi)驗(yan)過(guo)程試驗(yan)樣品不(bu)移(yi)動。

三(san)槽(cao)式(shi)冷(leng)熱(re)溫(wen)度沖(chong)擊(ji)箱(xiang)，用來考核產品(整(zheng)機(ji))、元器(qi)件(jian)、零(ling)部(bu)件(jian)等經受(shou)溫(wen)度急(ji)劇(ju)變(bian)化的能力。

高低(di)溫(wen)交(jiao)變(bian)沖(chong)擊(ji)試驗(yan)箱(xiang)，考核和確定電工(gong)、電子(zi)、汽(qi)車電器(qi)、材料(liao)等(deng)產品，在(zai)進行高低(di)溫(wen)試驗(yan)的溫(wen)度環(huan)境(jing)沖(chong)擊(ji)變(bian)化後(hou)的參數(shu)及性能。

可(ke)編(bian)程冷熱(re)交(jiao)換(huan)沖(chong)擊(ji)試驗(yan)箱(xiang)，根據試驗(yan)需求(qiu)及測(ce)試(shi)標(biao)準分為三(san)箱(xiang)式(shi)和兩箱(xiang)式(shi)，用來測(ce)試(shi)材料(liao)結(jie)構或復(fu)合(he)材料(liao)，在(zai)瞬間(jian)下經*溫(wen)及極低(di)溫(wen)的連續環境(jing)下所(suo)能忍受(shou)的程度。

箱(xiang)式(shi)冷(leng)熱(re)沖(chong)擊(ji)試驗(yan)箱(xiang)，試(shi)驗(yan)箱(xiang)分(fen)為(wei)高溫(wen)區(qu)、低(di)溫(wen)區(qu)、測(ce)試(shi)區(qu)三(san)部(bu)份，各(ge)區(qu)箱(xiang)體(ti)采(cai)用*的隔(ge)熱(re)結(jie)構，測(ce)試(shi)時可(ke)選(xuan)擇(ze)二槽(cao)（兩箱(xiang)法(fa)）或三(san)槽(cao)（三(san)箱(xiang)法(fa)）沖(chong)擊(ji)試驗(yan)。

智(zhi)能程控冷熱(re)沖(chong)擊(ji)試驗(yan)箱(xiang)，金屬、塑(su)料、橡(xiang)膠、電子(zi)等(deng)材料(liao)在(zai)短時(shi)間(jian)內試(shi)驗(yan)其因熱(re)脹冷縮(suo)所引(yin)起的化學或物理傷(shang)害(hai)。